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*光电导效应光電導效應指固體受光照而改變其電導率。此效應是最早發現的光電現象。半導體和絕緣體都有這種效應。

電導率正比於載流子濃度及其遷移率的乘積。

入射光的光子能量等於或大於與該激發過程相應的能隙ΔE(禁帶寬度或雜質能級到某一能帶限的距離),也就是光電導有一個最大的回應波長,稱為光電導的長波限λC,若λC以μm計,ΔE以eV計,則λC與ΔE的關係為λC=1.24/ΔE

就光電器件而言,最重要的參數是靈敏度,弛豫時間和光譜分佈。下麵討論一下光電導體的這三個參數。上一節一、光電導體的靈敏度

靈敏度通常指的是在一定條件下,單位照度所引起的光電流。由於各種器件使用的範圍及條件不一致,因此靈敏度有各種不同的表示法。光電導體的靈敏度表示在一定光強下光電導的強弱。它可以用光電增益G來表示。根據恒照即定態條件下電子與空穴的產生率與複合率相等可推導出:G=βτ/tL:(1)

式中β為量子產額,即吸收一個光子所產生的電子空穴對數;τ為光生載流子壽命;tL為載流子在光電導兩極間的渡越時間,一般有tL=l/μE=l2/μU(2)將式(1)代入式(2)可得

G=βτμU/l2式中l為光電導體兩極間距;μ為遷移率;E為兩極間的電場強度;U為外加電源電壓。可知,光電導體的非平衡載流子壽命τ越長,遷移率μ越大。光電導體的靈敏度(光電流或光電增益)就越高。而且,光電導體的靈敏度還與電極間距l的平方成反比。如果在光電導體中自由電子與空穴均參與導電,那麼,光電增益的運算式為G=β(τnμn+τpμp)U/l2

式中τn和τp分別為自由電子和空穴的壽命;μn和μp分別為自由電子和空穴的遷移率。二、光電導的弛豫

光電導是非平衡載流子效應,因此有一定的弛豫現象:光照射到樣品後,光電導逐漸增加,最後達到定態。光照停止,光電導在一段時間內逐漸消失。這種現象表現了光電導對光強變化反應的快慢。光電導上升或下降的時間就是弛豫時間,或稱為回應時間。顯然,弛豫時間長,表示光電導反應慢,這時稱為慣性大;弛豫時間短,即光電導反映快,稱為慣性小。從實際應用講,光電導的弛豫決定了在迅速變化的光強下,一個光電器件能否有效工作的問題。從光電導的機理來看,弛豫現象表現為在光強變化時,光生載流子的積累和消失的過程。因此,要討論弛豫現象,必須研究光生載流子的產生和複合。在分析定態光電導和光強之間的關係時,通常討論下麵的兩種情況:

1、直線性光電導的弛豫過程(即光電導與光強呈線性關係)

對直線性光電導材料而言,在光強照射下,增加的電子密度Δn(或空穴密度Δp)與光強I的關係可表示為

Δn=αI在定態的情況下,如果光生載流子有確定的複合幾率或壽命τ,這時,對直線性光電導可得:

Δn/τ=Inαβ式中In是以光子計算的入射光強(即單位時間內通過單位面積的光子數);α為光電導體對光的吸收係數。由此可知,光生載流子的密度與光強成正比,電導率的增量與光強也成正比。在直線性光電導中,恒定光照下決定光電導上升規律的微分方程

根據上式的初始條件t=0時,Δn=0,則方程的解為

取消光照後,決定光電導下降的微分方程為設光照停止時(t=0),Δn具有式(1.1-10)所示的定態值Δn=Inαβτ,則上式的解為所以直線性光電導上升和下降曲線如圖1.1.3-1所示。從上面分析可以看到,在直線性光電導的弛豫中,光電流都按指數規律上升和下降。在t=τ時,光電流上升到飽和值的(1-1/e),或下降到飽和值的1/e,上升和下降是對稱的。因此定義為光電流的弛豫時間。顯然,直線性光電導的弛豫時間與光強無關。圖1.1.3-1直線性光電導上升和下降曲線2、拋物線性光電導的弛豫過程(光電導與光強的平方根成正比)

對拋物線性光電導材料,Δn(或Δp)與光強I的關係可表示為

同時,必須假設複合率與光生載流子密度的平方程正比,即

複合率=b(Δn)2式中b為比例係數,這時的定態條件為由此可見,光生載流子

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