基于TOT技术的前端电路研究.pdfVIP

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2024-08-05 发布于江苏
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基于TOT技术的前端电路研究.pdf

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概述LanzhouHeavyIonAccelerator外靶实验终端中的多丝漂移室使用TOT技术，实现电子学的集成度和输入动态范围的提升，并实现了粒子径迹测量精度的提升针对现有解决方案的可行性，本文提出了基于TOT的技术的电荷测量方法，实现电路升级改造和测试，并将从单板16通道増加32通道，提高单板集成度

摘要

在兰州重离子加速器外靶实验终端中，多丝漂移室是其重要的气体探测

器，可以实现测量入射粒子的径迹。为提高HIRFL-CSR外靶实验前角区粒子

径迹测量探测器多丝漂移室(MultiWireDriftChamber,MWDC)前端读出电子学

的集成度和输入动态范围，并实现粒子径迹测量精度的提升，进而提高粒子

的鉴别能力。

根据以上需求设计一个多丝漂移室的前端读出电子学电路，并且实现验

证放大整形鉴别器(Amp

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