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STOKES参量椭偏测厚系统的精确度实验研究的中期报告 中期报告 随着光学技术的不断发展和进步，光学测量技术在材料科学、生物医学、电子信息等领域中得到了广泛的应用。其中，利用椭偏测量技术实现对材料光学特性的研究和分析具有很高的研究价值和应用前景。STOKES参量椭偏测厚系统是一种常见的椭偏测量技术设备，其能够测量材料的折射率、厚度和光吸收特性等数据，已经成为光学测量技术中不可或缺的设备之一。 本研究旨在通过实验研究，探索STOKES参量椭偏测厚系统在光学测量中的应用精度和测量稳定性，并针对多种材料性质进行分析研究。 在本次实验中，我们选取了不同材料作为样品，包括单质金属、金属氧化物、半导体及有机材料等。样品的厚度从几个纳米到数百纳米不等，尺寸大小也在毫米级别到厘米级别之间。我们通过调整STOKES参量椭偏测厚系统的参数，包括多个波长的椭偏光源和旋转角度、入射角度、Polarizer和波片的透射方向等设置，得到了一系列有关样品的光学参数数据，并对数据进行了统计分析。 通过对实验数据的分析，我们发现STOKES参量椭偏测厚系统在对金属氧化物和半导体等材料的光学特性测量中，具有较高的精度和稳定性，且测量误差较小。而对于单质金属及有机材料等的光学特性测量，即使在多次试验中，测量数据的稳定性和精度也较差。 针对实验中发现的问题，我们将进一步探索和研究不同样品的光学特性分析方法和技术，以优化测量参数和测试方法，提高测量精度和稳定性。 总体而言，对于材料的光学特性分析与测量等工作，STOKES参量椭偏测厚系统的应用已经成为一种较为成熟和广泛使用的技术手段。但是，仍然需要进一步深入研究和探索不同材料的特性，优化测量参数和测试方法，以提高测量数据的精度和稳定性，推动光学测量技术的发展和应用。