软件使用说明.doc

本软件系统参照了美国ASME和ASTM关于表面测量的标准。根据美国ASME和ASTM关于表面测量的标准，结合显微镜所获得的图像数据的实际，可以认为形貌图是由长波长的Waviness和短波长的Roughness构成，而表面特征主要是由Roughness决定。Waviness和Roughness可以由滤波或最小二乘方拟合来分离。ASME和ASTM定义了许多测量参数可以作为表面特征的表达，再加上信号可以从空间域和频域两个方面来观察的考虑，本软件系统采用了许多空间域和频域上定义的与ASME和ASTM标准相容的参数，以可视化的方式从图形、数据多方面努力刻画好、表达好形貌图的特征。 内容列表： 1）软件系统内容清单：视图部分 01－顶视图 02－三维视图 03－游览 04－多重视图 2）软件系统内容清单：分析部分 05—剖面分析 06—阶梯分析 07－深度分析 08－Bearing分析 09－颗粒分析 10－粗糙度分析11—宽度分析 12－自相关分析 13－功率谱分析 14—功率谱比较 15—Bearing比较 3）软件系统内容清单：变换部分 16—图像平整（Flatten）17—低通滤波 18—高通滤波 19—清除噪声线 20—图像缩放（Zoom） 21—图像缩放（Resize）22—选择区域截取23—图像相减 24—图像反转 25—图像旋转 26—平面拟合（Plane Fit）A27—边缘增强 27（b）—边缘检测：这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的 28—二维功率谱 29—高斯滤波 30—中值滤波A31—卷积 4）辅助性工具 32—设置颜色 33—屏幕输出到文件, 到打印机打印输出