一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案.pdfVIP

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2023-06-22 发布于四川
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一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案.pdf

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本发明公开了一种基于IEEE1149和IEEE1500标准的层次化SoC测试方案，涉及SoC芯片测试领域；其中，IEEE1500标准协议用于独立的进行SoC内部单个嵌入式内核测试，通过在嵌入式内核与系统之间定义内核测试接口来标准化IP内核测试结构，以便通过内核访问机制促进内核的测试复用；同时有效完成内核的测试和隔离，分区测试块之间的切换，达到完整测试SoC的目的；本发明通过改进IP内核集成的外围电路，实现层次化SoC中内核外核并行同步测试，最终达到减少测试时间的目的；可以为大型SoC产品提供灵活

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利 (10)授权公告号 CN 113433448 B (45)授权公告日 2022.05.03 (21)申请号 202110649053.6 审查员王晓萍 (22)申请日 2021.06.10