闪存扰码验证方法.pdfVIP

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2023-06-01 发布于四川
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闪存扰码验证方法.pdf

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本申请涉及存储器领域，具体涉及一种闪存扰码验证方法。包括：确定地址变换模拟算法；对闪存的存储区进行全面擦除操作，将存储区中各个存储单元变为第一电荷状态；确定至少一个目标电学地址；使得闪存的存储区，根据目标电学地址，对相应的目标存储单元进行编程操作，使得目标存储单元由第一电荷状态变为第二电荷状态；使得存储区各存储单元的漏端接触孔裸露；获取漏端接触孔裸露的存储区的电压衬度图像；根据电压衬度图像衬度点的阵列分布，和各个衬度点的衬度，确定与目标存储单元实际物理地址；通过地址变换模拟算法，计算目标电学地址

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 112542207 A (43)申请公布日 2021.03.23 (21)申请号 202011536570.4 (22)申请日 2020.12.23 (71)申请人华虹半导体（无锡）有限公司