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统计过程控制（ SPC）之不良率控制图的使用及建立 定义/ 说明/ 要求/ 目的： 不良率（ p）控制图是计数控制图， p 控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格，通过产品不合格率的变化来控制质量。 p 控制图在使用之前应消除不必要的外部变差的原因，在不使用 p 图之前就能消除明显的问题。 控制限是基于近似的正态分布，故使用的样本容量应该使 检查表： np 5 。 编号 检查内容 不良率控制图的使用场合 p 控制图是把被检查的零件或项目记录成合格或不合格， 通过产品不合格率的变化来控制质量的 p 控制控制的对象可以是不良品率、良品率、废品率、缺勤率和差错率 样本数可以相同也可以不相同 p 控制图出现异常时，比较难以找出异常的原因 p 控制图必须选择重要的检查项目，作为判断不良品的依据 第一次使用 p 图时，没有上下限的控制线，只可作为初始研究；第二次使用时可以从第一次中获得上下限的控制线 p 图为计数值，分布为二项分布 8 不良率控制图建 步骤一：选择 子组容量可以相同也可以不相同 9 立步骤 子组容量 为确保能检验出产品性能的变化， 一般要求子组容量在 50～ 200 或更多 10 对于可分析的 p 控制图，一般要求子组容量能够包含 3 以或更 多的不合格 11 每个子组代表一段时间的过程操作，大的子组容量可能会有不 利之处 12 不相同子组容量的变化最好± 25%之内 13 如果子组容量足够大，就能够获得下控制限，可以发现由于改 进造成的可查明原因 14 步骤二：确定 分组频率应根据产品的周期确定，以便帮助分析和纠正发现的 分组频率 问题 15 时间间隔短则反馈快，但或许与大的子组容量的要求相矛盾 16 步骤三：确定 收集数据的时间应足够长，以便能找到所有可能过程的变差源 子组的数量 一般情况下，应包括 25 个或更多的子组，以便很好地检验过程 的稳定性 17 步骤四：选择 一般不合格率作为纵坐标，子组（小时、天等）作为横坐标。 p 控制图的坐 标刻度 纵坐标的刻度从 0 到初步研究数据读数中最大的不合格率的 1.5 ～2 倍的值，便于落点 18 步骤五：合格 描绘每个子组的 p 值，将这些点连成线有助于发现异常图形和 率描绘在控制 趋势 图上 当点描完后，先确认一下是否合理。如发现任意一点比别的点高出或低出许多，需要检查是否正确 记录过程的变化或可能影响过程的异常情况。当发现这些情况时，必须在控制图上记录 步骤六：计算 单值及单值的均值  单值： pi npi ni  ； ni =被检查零件的数量， npi 发现的不合格品的数量 22 单值的均值： p np1 n1 np2 n2 ... ... npk nk  ； k=子组的数量； p p1 p2 ... k pk ；如果所有的 ni 相等 23 步骤七：计算 控制界限 控制中线： CL p p 24 控制上限：  UCLp p 3 p(1 p) ni 25 控制下限：  LCL p p 3 p(1 p) ni 26 样本 n 恒 定时 控制上限：  UCL p p 3 p(1 p) n 27 控制下限：  LCL p p 3 p(1 p) n 28 样本容量 发生变化时  如果： 最小值ni 最大值ni  0.75 ，则控制限不变 控制上限： UCL p p 3 p(1 n p) ； n =样本容 量的均值 控制下限：  LCL p  p 3 p(1 p) n 29 不良率控制图的 首次合格 (FTQ) 结果 30 使用例子 不合格品率 31 合格品率 32 在临界值以上（或以下）产品的比率 33 不良率控制图的 在特定分类中的产品比率 34 一般判定结果 在临界值以上（或以下）产品的比率 35 正常运行时间的比率（设备） 36 不良率控制图界 进行初始过程研究时 37 限的更新 对过程能力进行重新评价时，现有过程出现失误 38 样本容量改变时 39 工艺流程发生变化时 40 对过程的普通原因进行改善后