磁路间隙杂质 表面划痕检测.ppt

松下机電 日付 2014／07／10 负责人 确 定 制 造 TEST REPORT 　TO: 【检测目的】 ?检查利用位置补正、特征抽出，伤痕检知对磁路间隙进行标准检测。 【条件】 ?产品的定位　任意位置 ?在静止的情况下检查 経銷商　 机种　 PV200 【检测项目】 ? 检测磁路间隙杂质、磁片表面划痕。 【实施的内容】 使用视觉检测装置：PV200视觉系统,两百万像素 P.* 【设备安排】 2M camera F16镜头 P.* 被测物 【检测原理】 ?使用pv200的特征抽出判断 ?使用两百万万相机。照射范围为260mm×240mm，精度为0.02mm，检测时间100ms A 物距：15cm 光源 磁路间隙杂质判定方法： 先利用360度智能模板对工件进行定位。 再利用特征抽出检测磁路间隙中的杂质，并设定检测区域。 设定抽出条件 确保杂质能被准确抽出。 设定判定条件来判定出有杂质的不良品。 先对工件照片进行预处理，突出划痕。 磁片表面划痕判定方法： 再利用伤痕检知功能对预处理后的图片进行伤痕检测。 设定处理条件，确保所有不良品的伤痕都能呗检测出来。 设定判定条件对有划痕的不良品进行判定。