SCXR图讲义.ppt

1、使用控制图的准备 1）建立适合于实施的环境 a、排除阻碍人员公正的因素 b、提供相应的资源 c、管理者支持 2）定义过程 根据加工过程和上下使用者之间的关系，分析每个阶段的影响因素。 3）确定待控制的特性，应考虑到： 顾客的需求 当前及潜在的问题区域 特性间的相互关系 4）确定测量系统 a、规定检测的人员、环境、方法、数量、频率、设备或量具。 b、确保检测设备或量具本身的准确性和精密性。 5）使不必要的变差最小 确保过程按预定的方式运行 确保输入的材料符合要求 恒定的控制设定值 注：应在过程记录表上记录所有的相关事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的过程分析。 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5件连续的产品，并周性期的抽取子组。 注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 选择子组大小，频率和数据 1）子组大小：一般为5件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。 数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的 生产流。 2）子组频率：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这 些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对 正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。 3）子 组 数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用管制图选用35 组数据，以便调整。 2、收集数据 3、建立控制图及记录原始数据 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值，刻度选择：对于X 图，坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应至少为子组均值（X）的最大值与最小值的差的2倍，对于R图坐标上的刻度值的最大值与最小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R）的2倍。 注：一个有用的建议是将 R 图的刻度值设置为 X 图刻度值的2倍。 （ 例如：平均值图上1个刻度代表0.01英寸，则在极差图上1个刻度代表0.02英寸） 3-1 计算每个子组的均值（X）和极差R 每个子组：X=（X1+X2+…+Xn）/ n R= Xmax-Xmin 注：X1，X2...Xn为子组内的每个测量值。n表示子组的样本容量 3-2 选择控制图的刻度 THANK YOU SUCCESS * * 可编辑 下限 UCLx = X- A2R (均值) ；UCLR=D3R（极差）； 上限 UCLx = X+ A2R (均值) ；UCLR=D4R（极差）； 3-3 计算控制限 3-3-2 计算控制限 3-3-1 计算平均极差（R）及过程均值（X） R=（R1+R2+…+Rk）/ k（K表示子组数量） X=（X1+X2+…+Xk）/ k 注:A2,D3,D4为常系数，决定于子组样本容量。其系数值见下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 D3 ? ? ? ? ? 0.08 0.14 0.18 0.22 A2 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.34 0.34 0.31 对于样本容量小于7的情况，LCLR可能技术上为一个负值。在这种情况下没有下控制限，这意味着对于一个样本数为6的子组，6个“同样的”测量结果是可能成立的 4、过程控制分析 分析控制图的目的在于识别过程变化或过程均值不恒定的证据。（即其中之一或两者均不受控）进而采取适当的措施。 注1：R 图和 X 图应分别分析，但可进行比较，了解影响过程的特殊原因。 注2：因为子组极差或子组均值的能力都取决于零件间的变差，因此，首先应分析R图。 4-1 分析极差图上的数据点 4-1-1 超出控制限的点 a 出现一个或多个点超出任何控制限是该点处于失控状态的主要证据，应分析。 ?? b 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种： b.1 控制限计算错误或描点时描错 b.2 零件间的变化性或分布的宽度已增大(即变坏） b.3 测量系统变化（如：不同的检验员或量具） c 有一点位于控制限之下，说明存在下列情况的一种或多种 c.1 控制限或描点时描错 c.2 分布的宽度变小（变好） c.3 测量系统已改变（包括数据编辑或变换） 4、过程控制分析 4-1-1 超出控制限的点 4-1 分析极差图