SPC统计程管制教材.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 第四单元 总结 1.Cp、Ca、Cpk的定义? 2.提升制程能力必须先改善那个指标? 3.Cp要先降低什么? A3:制程变异 A2:Cp A1: P76,P79, P81. * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 五、缺点数管制图(c管制图)---样本大小相同 建立缺点数管制图之步骤 1. 用途 有些产品虽有缺点，但不致因为有少数之缺点，而使产品成为废品，只是缺点之多少会影响其质量之高低而已。因此缺点数目可表示其 质量，在这种情形下，可使用缺点数管制图来管制产品质量。 2. 搜集数据 取单位大小相同之样本20至25组，并使每组样本内含有1至5个缺点数为佳。(m=20 to 25) 3.计算平均缺点数: 4. 计算管制界限: 例五、下表为上个月IPQC对压合后PCB的针孔凹陷点值查检表,请用下表的资料建构缺点数管制图 [解]： 1. 计算管制界限: 2. 点绘管制图 缺点数管制图 六、管制图分析 1.正常的管制图型态 没有点超出管制界限 量测点随机出现 六、管制图分析 2.趋势型制程 工具老化、磨耗 化学溶液浓度改变 六、管制图分析 3.循环型制程 环境变异(温度、湿度、压力...) 操作者或机器的疲劳或轮替 六、管制图分析 4.偏移型制程 新的操作员、设备或材料 变更制程条件 六、管制图分析 5.混合型制程 多种机器或多位操作者 产品质量特性未层别 六、管制图分析 6.集中型制程 用错管制图 量具无法测出数据变异 第三单元 总结 X-R Chart与X-S Chart使用时机有何不同? 建立解析用管制图的16步骤为何? A2:P31. _ A1:X-R:1n=10 X-S:样本数不论大小皆可使用 (但样本数大于10,则必须使用此管制图) _ _ _ 第四单元：制程能力分析与制程能力指标 ●基本观念 所谓的制程能力，是指一个制程在固定的生产因素与稳定的管制下(±3σ)所生产产品之质量符合客户需求(客户规格)的能力。其中包括两个评价方向,即精度与准度。 ●制程能力的调查包括了4M(人员、机械设备、材料、方法) 既精且准 精但不准 不精也不准 ●制程能力的调查方式 (一)、图示法 ------以直方图、管制图表示之。 (二)、数值法 ------以Ca值,Cp值,Cpk 值表示之。 1. 制程精密度Cp Cp值在衡量制程之变异宽度与规格上下限之范围的相差情形，其定义为规格上下限之间可以容纳多少个±3σ(亦即是6σ)。 (1) Cp的计算式 (2)Cp又称为potential capability，即指制程潜在的最大能力，也就是制程之中心值与规格之中心值重迭而没有偏移时，亦称为「短期能力」(short-term capability) 。当制程之中心值与规格之中心值有偏移时，制程能力就必须减掉下述的矫正值Ca 。 (T=规格上限-下限) (2)等级判定：Cp值愈大，表示质量愈佳 (传统工业的分级) 0.67=4σ/6σ 1.00=6σ/6σ 1.33=8σ/6σ 1.67=10σ/6σ 在电子业,Cp均要求要达到2.0, 即达到6Sigma的水平 X Cp值图示 USL LSL 6σ T 3σ T/2 μ LCL UCL 2. 制程准确度Ca Ca值在衡量制程之实绩平均值相对于规格中心值之偏移程度 (1) Ca之计算式 规格公差 =T =规格上限 - 规格下限 =USL-LSL 规格中心值 = (规格上限 ＋ 规格下限)/2 注意：单边规格因没有规格中心值故不能算Ca (2)Ca值为制程中心值偏移规格中心值时制程能力之矫正值 (non-centering correction) 。 (3)等级判定：Ca值愈小，表示质量愈佳(以下为传统工业的分级) 50%=1/2 25%=1/4 12.5%=1/8 X Ca值图示 USL LSL T/2 μ X-μ 3.制程能力指标Cpk (1) Cpk之计算式 Cpk乃是Ca和Cp两值的综合指标,也称为「短期的 制程能力指标」 (Short-Term Process Capability) X USL LSL 3σ μ USL-X LCL (-3σ) UCL (+3σ) Cpk值图示 (2)等级判定：Cpk值愈大，表示质量愈佳 另有一指标称为Ppk ,Ppk与Cpk公式相同, 但是