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高速AD7654转换器及其在存储测试系统中应用 　　摘要：为了研制应用于跌落试验等环境试验的存储测试系统，利用高速A/D转换芯片AD7654结合SoC片上系统C8051F340逻辑时序控制的方法来实现200 KSPS采样速率的系统指标要求。AD7654是AD公司推出的一款低功耗、四通道、电荷再分布式、16位500 KSPS高速A/D转换器。在此介绍了AD7654的主要特点、工作原理和逻辑时序，并为了实现并行存储测试的实际需要，设计了AD7654与SoC片上系统以及非易失性存储器的接口电路，并给出相应了相应的A/D中断服务程序。该提供的方法对类似的项目有一定参考价值。 　　关键词：AD7654; 高速A/D转换器; 存储测试系统； SoC 　　中图分类号：TN792?34文献标识码：A文章编号：1004?373X(2012)04?0156?03 　　 　　High?speed AD7654 converter and its application in storage testing system 　　ZHANG Yi 　　(Institute of Systems Engineering, CAEP, Miayang 621900, China) 　　 　　Abstract： To develop the storage testing system applied to the drop test, the high?speed AD conversion chip AD7654 is used to satisfy the system demand of 200 KSPS sampling rate, which controlled by SOC (system on chip) C8051F340. AD7654 is a low power, 4?channel, charge redistribution SAR, 16?bit, 500 KSPS high?speed ADC produced by the Analog Device Company. The main features, operation principle, temporal logic of the AD7654 are introduced. The interface circuits of AD7654 connecting with system on chip and nonvolatile memory devices are designed. The AD interrupt service programs are produced. This method has some reference merit to similar subjects. 　　Keywords： AD7654; high?speed ADC; storage testing system; SoC 　　 　　 　　收稿日期：2011?09?26 　　基金项目：中物院创新发展基金（10CXJ10）0引言 　　存储测试技术在跌落、侵彻等环境试验中有重要意义，它克服了电缆引线测试方法的主要缺点，并具有抗干扰性强、操作安装简便等优点。为实现双通道同步采样，且采样频率可达200 KSPS、存储时间10 s的存储测试系统，在此选择了ADC7654高速转换芯片，并设计了基于16位高速转换器AD7654和C8051F340的并行数据转换存储电路。 　　1AD7654 的性能特点和管脚说明 　　AD7654是16位分辨率、采样速率可达500 kS/S的高速A/D转换器［1］，其封装方式有48脚LQFP和LFCSP两种，有关???脚说明见表1。它的主要特点是:16位分辨率无漏失码；0～5 V模拟输入范围；3/5 V串/并行接口；4通道，具有2个允许同步采样的低噪音、高带宽跟踪/保持放大；低功耗，10 KSPS时2.6 mW，典型值仅为120 mW；SPI/QSPI/Microwire/DSP兼容；具有内部转换时钟、错误校准电路，给予用户灵活的选择［2?5］。 　　2AD7654与C8051F340的接口电路设计 　　为实现双通道同步采样，选择48 MIPS的高速SoC片上系统C8051F340进行逻辑时序控制，外部存储器选择非易失性高速并行FRAM存储器M28W640，其结构为4 Mb×16 b。接口电路见图1。 　　图1中，C8051F340的P0口分配给A/D转换器及其设备的控制端。其中P0.0连接CNVST,P0.1连接A/D转换器A/B端，P0.2连接A/D转换器的Busy端，用做外部中断源。P1.0~P1.7