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同步垂直双向观测 (SVDV) — 超快的分析速度和卓越的分析性能 技术概述 5110 ICP-OES 什么是同步垂直双向观测 (SVDV)? Agilent 5110 ICP-OES 彻底变革了 ICP-OES 分析。样品通量更高、气体 消耗更低，其完美的分析性能让您轻松应对复杂样品。5110 SVDV 拥 有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，该技术可以在一次测量中自动选 择并同时测定来自稳定的垂直等离子体发出的全波段范围内的水平和 垂直方向的光。这一卓越性能，再加上高速 VistaChip II CCD 检测器和 创新的 SVS 2+ 切换阀，造就了史上样品通量最高、每个样品分析的 气体消耗量最小的 ICP-OES。水平观测的垂直炬管和冷锥接口 (CCI) 等 技术使得 5110 能够分析含有高达百分含量总溶解态固体 (TDS) 样品， 同时拥有出色的线性动态范围。这些性能有助于最大限度减少额外的 样品稀释或同一样品多次读数的需要，进一步提高样品通量。 一次测量同时读取等离子体水平和垂直 件（图 1）位于两条发射光光路的聚合点，水平和 观测信号 垂直发射光的组合被同步导入 5110 SVDV 的光学元 件。由于可同时读取水平和垂直光，因此缩短了样 品的分析时间，确保每个样品分析的氩气消耗量比 现代任何全谱直读 ICP-OES 都要低。 水平光 相比之下，传统“全谱直读”DV 仪器在样品通量 方面大打折扣，因为该仪器需依次读取水平和垂直 的发射光。在同一方法中，用户需要指定哪些元素 和波长在水平方向读取，哪些元素和波长在垂直方 向读取。因此，同一样品需读取两次。根据不同的 通往检测器 传统全谱直读 DV 仪器设计，同一样品的完整分析 垂直光 最多可能需要读取四次。US EPA 200.7 一类的基准 垂直炬管及 分析对仪器性能有强制性要求，在使用类似的样品 等离子体 引入系统组件的情况下，Agilent 5110 SVDV ICP-OES 的分析速度是传统“全谱直读”DV 仪器的两倍， 而每个样品分析的氩气消耗量只有后者的一半。 智能光谱组合技术 (DSC) 得益于出色的光学设计和用于所有 5110 配置的 VistaChip II CCD 定制检测器，5110 垂直双向观测 (VDV) 配置（以及 VDV 操作模式）使得每个样品消 图 1. 示意图展示了来自水平和垂直等离子体观测的发射光同步聚合到 耗的气体比其他“传统”DV 系统少 30%。 DSC 上，组合的发射光又被传输到多色仪光学元件上 精心设计的 DSC 组件可反射或透射特定波长的光， 传统的双向观测 (DV) ICP-OES 仪器存在一定的不 并将光传输至光栅多色仪中。这样就可以对有毒元 足，尤其是耐用性和分析速度。大多数传统双向观