高频电路实验-1.docVIP

预备实验 高频电路实验常用仪器使用方法…………………1 实验一 单调谐回路调谐放大器研究…………………………5 实验二 双调谐回路谐振放大器研究………………………………7 实验三 LC 电容三点式振荡器…………………………………9 实验四 石英晶体振荡器………………………………………12 实验五 全载波调幅器（利用乘法器）……………………14 实验六 平衡调幅器（利用乘法器…………………………17 实验6 平衡调幅器的实验步骤………………19 实验七 二极管调幅波信号的解调………………………………20 实验八 同步检波器……………………………………22 实验九 变容二极管调频振荡器………………………………24 实验十 相位鉴频器………………………………………26 实验十一 集成电路（压控振荡器）构成的频率调制器…………29 实验十二 集成电路（锁相环）构成的频率解调器……………32 实验十三 利用二极管函数电路实现波形转换…………………34 实验十四 高频功率放大器（丙类）………………………………35 预备实验 高频电路实验常用仪器使用方法 一、实验目的 学习并掌握高频电路实验常用仪器的使用方法。 二、实验仪器 1．双踪示波器 2．扫频仪（频率特性测试仪） 3．频率计（计数器） 4、DVCC—GPI实验箱 三、仪器使用简要说明 （一）、双踪示波器测信号波形及参数的使用方法 MOS620、双踪示波器面版排列见图0—1所示 （1）单踪测量方法： 1、将Y输入CHI和CH2置接地位置GND。 2、所有按钮×10 MAG、ALT CHOP、CH2 INV、TRIG ALT、SLOPE都在跳起位置。 3、选择开关MODE在AUTO位置。 4、展宽钮SWP、VAR 顺旋到底。 5、灵敏度微调钮顺时旋至关的位置。 6、打开电源开关POWER，指示灯应亮。 7、调整亮度钮INTEN、聚焦钮FOCUS、水平移位钮POSITION、垂直移位钮POSITION▲▼屏幕上应显示清晰的水平扫描线。 8、系统选择键MODE打在CH1或CH2位置，同步选择键也打在对应的CH1或CH2位置。由Y输入CHI或CH2输入待测信号。适当调整Y输入CH1或CH2对应的灵敏度调整钮VOLTS/DIV使信号幅度峰—峰值不超过6格。（有可能不是完整波形，是一片阴影也可）。 9、估算信号频率、周期，调整周期调整钮TIME/DIV，同时微调同步调整钮LEVEL，使屏幕上显示一个或几个稳定、完整的信号波形。 （2）双踪测量方法： 1、两信号f（或T）必须相同或成整倍数。 2、系统选择键MODE打在OUAL位置。 3、同步选择键打在CH1或CH2位置，原则是：选择两输入信号中幅度较大、较稳定的一个。 4、其他调整方法同上。 （3）读数： 1、信号幅度峰—峰值=信号波形峰峰格数×灵敏度指示值V（或mV）/格 2、信号周期=波形水平方向所占格数×周期钮指示值ms（或ūs）。频率为周期的倒数。 （二）、频率计（计数器）测频率的使用方法 1、SP1500C型多功能计数器面版排列见图0—2所示： 2、打开电源开关17，测试数据显示窗口1和指数显示窗口2应有显示数据。 3、信号频率f＜100MHz时由A通道输入插座4输入信号，同时按下频率A按钮。 而信号频率f＞100MHz时由B通道输入插座3输入信号，同时按下频率B按钮。 4、按下闸门选择按钮7—10中一个，使显示数据的闪动周期合适。 5、测试数据显示窗口1所显示的数据（一般6—8位），前几位固定，为有效位，后几位闪动，为无效位。待测信号f=显示数据*指数（Hz）。 6、若测试数据显示窗口1所显示的数据全部闪动，则原因为其一：输入的信号为非周期性信号或干扰信号；其二：输入的信号幅度太小，应将衰减开关6置*1位置或增大输入信号。 7、若测试数据显示窗口1所显示的数据全固定不变，则无输入信号。 （三）、扫频仪（频率特性测试仪）测幅频特性的使用方法 1、BT3C—RF宽带扫频仪面版排列见图0—3所示： 2、按下电源开关1，衰减指示10应显示一任意数值。 3、根据需要按下频标方式按键13和扫频方式按键14的“50MHz”、“全扫”或 “10.1MHz”、“窄扫”一对按钮，一般使用“10、1MHz”、“窄扫”。 4、使Y轴显示方式按键15在“AC”位置。 5、调整亮度调整钮2、X移位调整钮3、Y移位调整钮18，屏幕5上应显示一条水平亮线,该线为频率轴。 6、调整频标幅度钮11，使频标幅度符合要求。使用“10、1MHz”、“窄扫”时，两频标点之间的频宽为1MHz。 7、逆时方向调整中心频率调整钮7，可找到一个特株的频标点,该点即为频率轴的原点. 调整中心频率调整钮7使待