正交偏光镜下光学性质.pptVIP

五、注意事项 1、利用晶片楔形边缘的干涉色圈，判断晶体的干涉色级序时，必须是晶体边缘从一级灰白开始，才能正确判断。 2、利用石英楔测定干涉色级序，慢慢抽出石英楔时，可以仔细观察晶片周围树胶的干涉色变化。当石英楔干涉色与晶片的干涉色相互抵消时，树胶的位置出现的干涉色就是石英楔插入位置的干涉色，当抽出石英楔，树胶位置干涉色的变化，可以清楚地显示红色的条带。 六、实验报告： 将观察测定的结果填入下表： 橄榄石干涉色的测定 7 6 5 4 3 2 1 最大双折射率 最高干涉色 几级干涉色 红带数目 几级干涉色 红带数目 橄榄石的光性 颗粒切面的双折射率 使用石英楔测定 边缘色带法测定 颗粒切面干涉色 颗粒 实验六 正交偏光镜下的观察（三） 一、实验目的要求：学习测定轴名，测量最大消光角，消光类型和延性符号。 二、实验设备： 角闪石薄片（晶光2）、石膏试板和云母试板。 三、实验指导 1、消光类型及消光角 在正交偏光镜下，非均质晶体任意切面处于消光位时，晶体的光率体椭圆半径与上、下偏光镜的振动方向的平行位置，一般以目镜十字丝代表上、下偏光镜的振动方向，因此，当晶体消光处于消光位时，目镜十字丝可代表晶体光率体椭圆半径的方向。由于晶体光率体的主轴与晶体的结晶轴之间有一定关系，即光性方位，而晶体薄片上的解理缝、双晶缝和晶棱等与晶轴又有一定的关系，所以按光性方位来划分晶体的消光类型时，就可以按消光时晶体的解理缝、双晶缝等与目镜十字丝的关系分为如下三种类型。 （1）平行消光（图32A） 晶片在消光位时，晶片上解理缝或晶面迹线与目镜十字丝之一平行，即晶体椭圆半径之一与解理缝或晶面迹线平行，如黑云母。 图32 消光类型 （2）对称消光（图32C） 晶片在消光时，目镜十字丝是两组解理缝或两个晶面迹线夹角的平分线，即晶片光率体椭圆半径是两组解理缝或两个晶面迹线夹角的平分线。如角闪石垂直两组角理切面。 图32 消光类型 （3）斜消光（图32B） 晶片在消光位时，晶片上的解理缝或双晶缝或晶面迹线等与目镜十字丝斜交。即晶片上光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝或晶面迹线斜交。此时，光率体椭圆半径与解理缝或双晶缝或晶面迹线之间的夹角称消光角，具体表现为晶片在消光位时，目镜十字丝与解理缝或双晶缝或晶面迹线之间的夹角。 晶片的消光类型与晶体的光性方位及切面方向有密切联系。不同晶系晶体，不同方向切面的消光类型，大致具有一定的规律。 图32 消光类型 2、各晶系晶体的消光类型 （1）中级晶族晶体的消光类型 中级晶族晶体的光性方位是光率体的Ne轴（光轴）与晶体的Z晶轴一致。这类晶体的消光类型以平行消光和对称消光为主，斜消光切面非常稀少。 （2）斜方晶系晶体的消光类型 斜面方晶系晶体的光性方位是光率体的三个主轴与晶体的三个结晶轴一致。在[100]、[010]和[001]三个晶带中的所有切面都是平行消光或对称消光。但与三个结晶轴斜交，而且斜交角度较大的切面。可能出现斜消光，其消光角一般较小，极少数可达400左右。 （2）单斜晶系晶体的消光类型 单斜晶系晶体的光性方位是晶体的Y晶轴与光率体三个主轴之一重合，其余两个主轴与X、Z晶轴斜交。这类型晶体不同方向切面的消光类型可能不同情况。如普通角闪石在平行（001）的切面为对称消光（图33C），其它方向根据主轴与结晶轴之间的关系又有三种情况（图33A、B、D）。 图33 普通角闪石不同方向切面的消光类型 （3）三斜晶系晶体的消光类型 三斜晶系晶体的光性方位是光率体三个主轴与晶体的三个结晶轴斜交。因此，这类晶体的绝大多数切面是斜消光，而且其消光角大小随切面方向而异。一般是选择某些特殊方向测定消光角。如斜长石通常选择垂直（010）的切面或同时垂直（010）和（001）的切面测定消光角。 图33 普通角闪石不同方向切面的消光类型 3、延性符号 长条状晶体切面，其延长方向与光率体椭圆长半径Ng或Ng’平行或其夹角小于450时，称正延性；其延长方向与光率体椭圆短半径Np或Np’平行或其夹角小于450时，称为负延性。 4、双晶的观察 晶体的双晶在正交偏光镜间，表现为相邻两个双晶单体的消光不一致，呈现一明一暗现象。这是由于构成双晶的两个单体中，一个单体绕另一个单体旋转1800，使两个单体的光率体椭圆半径方位不同（图34）。两个双晶单体间的结合面称双晶结合面。双晶结合面与晶片平面的交线称双晶缝，一般比较平直。根据双晶单体数目可划分下列两种类型： 图34 A-双晶在正交偏光镜间的消光情况；B-双晶上 两单体的光率体椭圆切面与目镜十字丝间的关系 （1）简单双晶 仅由两个双晶单体组成。在正交偏光镜间，表现为