浮法玻璃缺陷分析鉴定.ppt

CDCSG 内部资料 1111 2222 欢 迎 浮法玻璃缺陷分析鉴定 蒋路平 工程师 成都南玻璃玻有限公司 槽窑部 内容提要 一、鉴定结石的方法 二、原料结石 三、外来污染物 四、析晶结石 五、耐火材料结石 六、条纹节瘤 七、锡槽缺陷 一、结石鉴定的方法 1、肉眼和放大镜直接观察法 2、偏光显微镜检验法 3、电子显微镜分析法 1 肉眼和放大镜直接观察法 这是最基本和最简单的方法，可以在现场随时取样检验，但检验人员需掌握关于结石的丰富知识和经验。目测检验能对结石及其周围玻璃的关系有一个整体的了解，这对判明结石的成因是很有帮助的。有经验的玻璃工艺人员往往能通过目测便能大致判断结石的成因。但依靠直观作出最后结论是危险的，所以目测检验一般只作为初步鉴别，还需要进一步采用仪器分析才能最后鉴定。 观察内容（一般先用肉眼和放大镜体视显微镜） 结石周围是否有包囊：硅质结石周围玻璃折射率小，包囊外缘形成粘度较高的扩散层，向外层逐渐消失；铝硅质结石周围玻璃折射率高，包囊周围比较清晰，玻璃中常出现明显的线道（玻筋）。 结石周围扩散层是否有拖尾：铝硅质结石周围玻璃表面张力大，不易均化，在成型过程中，结石周围的玻璃有被拖长的“尾巴”。而硅质结石因周围扩散层宽，常出现短的“尾巴”。 1 肉眼和放大镜直接观察法观察内容 结石的颜色 结石周围有无小气泡：粘土质结石周围会有一些气泡，粉料结石往往会有粗大的气泡聚集在一起。 结石的外观：特征的外貌比如芒硝呈椭圆形， 颜色乳白， 放大后可看到水花状的裂纹。 2 偏光显微镜检验法 这种方法是把结石样品做成切片置于偏光显微镜下进行观察，确定出结石的晶型结构，光学性质、鉴定结石的类型和矿物组成，然后结合原料、熔炉、耐火材料以及析晶率具体情况判别结石的产生原因。 偏光显微镜是最广泛使用的方法。（显微镜直接观察、粉末法、简易磨片法、薄片法。） 3 电子探针显微分析法 用电子探针显微分析法来确定结石的组成元素是一种快速的方法，它有三种分析方式。 点分析法：这是用电子射线照射结石试样的固定点上，并检测从结石试样发出的特征X射线，从而确定该点的化学成分。 线分析法：这种方法着重于确定结石中的某一特定成分。它是用电子射线沿直线扫描试样，核定该成分在试样上分布。用这方法可以对试样发出的X射线进行连续记录，以达到半定量的测定。 面分析：把结石表面上的0.3*0.3mm的检验区域中各元素的分布和密度通过显示器显示出来，可以用这种方法拍出照片，记录下各元素的分布。 用电子探针来检验结石中的微量元素是很有效的，这是确定玻璃中的条纹成分的最理想的方法，而条纹与结石有密切的联系 二、原料结石 （1）硅质原料结石 外观特征：结石呈洁白色，片状或团状，结构疏松，气孔较多，结石由于含硅高形成较宽的扩散层，它的粘度比正常玻璃大，但表面张力及折射率则不如富铝玻璃，因而与周围玻璃界线不明显。有的外观呈白色，内为未熔的硅质料团，有的在窑内停留时间长的可呈半透明状。 未熔化的石英颗粒和条纹（薄片） 石英颗粒的周围通常会有一层富硅无色圈，会是玻璃产生条纹 石英颗粒的周围通常会有一层富硅无色圈，会是玻璃产生条纹;来源：砂污染。 石英颗粒边缘析出方石英（薄片） 硅质浮渣：结石中及其周围有气泡 硅质浮渣：结石中及其周围有气泡 硅质浮渣：结石中及其周围有气泡 硅质浮渣结石（薄片） 硅质浮渣结石（薄片） 芒硝结石（薄片） 未溶解的芒硝 来自于流道的芒硝结石 三、外来夹杂物 铬铁矿系：由原料和耐火材料产生 原料产生的铬铁矿结石是由于玻璃原料中混有铬铁矿，它们进入熔炉不能溶解从而形成结石。这种结石内部是深红色的未变质铬铁矿。由原料引入的铬铁矿由于自然摩擦一般约呈球形。 耐火材料产生的铬铁矿结石：结石一般出现在采用铬质耐材的纤维玻璃窑炉。这类结石常残留有未溶解的硅酸盐相，可以根据这一点与原料杂质产生的铬铁矿结石区别。蓄热室中使用的铬镁砖渣也有可能进入玻璃窑炉成为铬铁矿结石。 三、外来夹杂物 单质硅：球状、脆性、金属光泽、常与玻璃形成放射状裂纹，强烈干涉色。来源：金属铝、香烟的铝箔纸、易拉罐等铝质金属污染。 4Al+3SiO2=Al2O3+3Si 800 _1000℃ 硅开始生成，1400 ℃以上熔化并最终生成硅颗粒。 氧化铁：黑色常带褐色条纹和反应气泡。 单质硅结石 铬铁矿 铬铁矿结石（薄片） 板网状 铬铁矿结石（薄片） 铬铁矿结石显微结构（薄片） 石英玻璃 铁结石 四、析晶结石 析晶的原因：（1）熔化不良或耐材侵蚀，以及熔体表面组分挥发等原因造成的某些组分局部富集。（2）窑内温度较低部位或“死角”的析晶物质随玻璃液流动而形成析晶结石。 钠钙硅酸盐玻璃析晶范围通常在600~1000℃范围内。 析晶结石常