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可编程控制器一-
1.6.4 常见失效分布 1.6.4.1 常见的失效分布类型 1.6.4.2 失效分布类型的估计方法 1.6.4.3 失效分布类型的检验方法 1.6.4.2 失效分布类型的估计方法 大子样情况 小子样情况 排序:t1≤t2≤……≤tr,其中r是试验数据总数; 计算R(ti),列表; 试品数n20: 试品数n≤20: 1.6.4.3 失效分布类型的检验方法 1. 图检验法 2. ?2检验法 3. K-S检验法 1. 图检验法(指数分布) 单边对数坐标纸的由来 1. 图检验法(指数分布) 检验方法 在单边对数坐标纸上描点(ti,R(ti)),其轨迹若是通过(0,1)点的直线,则可判断其失效分布类型为单参数指数分布; 在单边对数坐标纸上描点(ti,R(ti)),其轨迹若不是通过(0,1)点的直线,则可判断其失效分布类型为双参数指数分布 ( )。 习题 设从某种型号的一批产品中任抽30个进行寿命试验,当试到20个失效时试验停止。其寿命数据如下表所示(单位为104次)。试估计该产品的失效分布类型,并用图检验法进行检验。 1. 图检验法(威布尔分布) 威布尔概率纸的结构原理 1. 图检验法(威布尔分布) 两参数威布尔分布(?=0)检验方法——在威布尔概率纸上描点(ti,F(ti)),其轨迹若近似为一条直线,则可判断其失效分布类型为两参数威布尔分布; 三参数威布尔分布检验方法 1. 图检验法(威布尔分布) 三参数威布尔分布检验步骤 计算F(ti),将ti及F(ti)之值列表; 描点(ti,F(ti)),绘制曲线,并向t尺延长与之相交,交点M的读数即为?的估计值 (F(t)=0时t=?); 计算t’i列于表中; 描点(t’i,F(ti)),其轨迹若近似为一条直线,则可判断其失效分布类型为三参数威布尔分布。 习题 设有某型号接触器20个进行寿命试验,当试到10个失效时停试,其寿命数据如表所示,试确定其失效分布类型。 1. 图检验法(正态分布) 正态概率纸的结构原理 1. 图检验法(正态分布) 正态分布检验方法——在正态概率纸上描点(ti,F(ti)),其轨迹若近似为一条直线,则可判断其失效分布类型为正态分布 1. 图检验法(对数正态分布) 对数正态概率纸的结构原理 1. 图检验法(对数正态分布) 对数正态分布检验方法——在对数正态概率纸上描点(ti,F(ti)),其轨迹若近似为一条直线,则可判断其失效分布类型为对数正态分布 1.6.4.3 失效分布类型的检验方法 1. 图检验法 2. ?2检验法 3. K-S检验法 2. ?2检验法 基本概念——即根据子样观察值x1,x2,… ,xn去检验关于总体分布的假设H0:F(x)=F0(x)是否成立的一种方法。F(x)为总体的分布函数,F0(x)为已知的分布函数(一般称为理论分布函数)。 实质上是根据子样观察值去检验Fn(x)=F0(x)是否成立 统计量——描述Fn(x)与F0(x)之间偏离程度的量 2. ?2检验法 统计量 将(-∞,∞)分为k个不相交的区间(ai,ai+1),其中i=1,2,……,k; 统计实际频数mi——子样观察值x1,x2,… ,xn落在第i个区间(ai,ai+1)内的个数; 计算理论频数nPi——随机变量X落在第i个区间(ai,ai+1)内的概率Pi与子样容量n的乘积。 2. ?2检验法 规定 当统计量?2c1(待定常数)时,拒绝假设H0,(Fn(x)与F0(x)之间的偏离是由于F(x)≠F0(x)所引起),将?2c1的范围称为否定域; 当统计量?2 c1时,不能拒绝假设H0而加以接受(Fn(x)与F0(x)之间的偏离是由于子样的随机性所引起)。 2. ?2检验法 显著性水平 作出上述判断的依据是一个子样,若根据?2 c1,拒绝假设H0,而实际上假设H0是正确的,所以,该判断是一种错误。将出现这种错误判断的概率称之为显著性水平,记为:P(拒绝H0|H0为真)=P(?2c1|H0为真)=?(一般取为=0.05)。 2. ?2检验法 常数c1的确定方法(确定否定域) ?2分布——当某随机变量X的密度函数 (x0)时,则称该随机变量X服从自由度为f的?2分布 2. ?2检验法 常数c1的确定方法(确定否定域) 自由度为f的?2分布的下侧分位数 自由度为f的?2分布的上侧分位数 2. ?2检验法 ?2分布的下侧分位数表中自由度f最大为150,当f150时 2. ?2检验法 常数c1的确定方法(确定否定域) 皮尔逊定理——当子样容量充分大(n≥50),则不论总体属于什么分布,统计量
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