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2017-10-08 发布于天津
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目錄目錄0 壹、儀器研製 1 一、光電儀器 1 二、真空儀器2 三、電子儀器2 貳、檢測技術3 一、表面檢測3 二、奈米特性檢測3 三、光學性能檢測3 參、製造技術 5 一、鏡片加工5 二、光學薄膜5 三、奈米及微機電製程5 四、機械加工與檢測6 五、電子技術6 肆、TAF 認證項目7 伍、委託服務 9 一、技術服務收費標準9 二、服務流程 14 陸、技術移轉 15 柒、人才培訓 16 捌、儀器資訊服務 17 一、全國儀器設備資訊系統 17 二、出版品 18 三、科儀新知廣告價目表 19 玖、光學系統整合研發聯盟 20 拾、其他服務 22 一、研究生參與研究計畫作業要點 22 二、實驗室參觀23 三、研討會場地租借23 四、圖書館際合作服務23 五、交通資訊24 第二版 2015 年 2 月壹、儀器研製一、光電儀器項次項目系統參數 EFL ：36 mm 四波段： F# ：3 B1 (450–520 nm) FOV ： 20° B2 (530–610 nm) IFOV ：0.25 m rad B3 (630–690 nm) 1 植被及國土變遷觀測儀 B4 (780–900 nm) 光學 MTF ： (波段範圍可於 400– 1000 nm 0.4@56 lp/mm 系統 MTF ：內依需求變更) 0.15@56 lp/mm F ：262.5 mm IFOV ：0.25 rad 2 高解析度光電影像模組 FOV ：3.8° 4 BLU 適用輝度精度：3 % 背光模組 (BLU) 輝度及均勻度 3 輝度： 10–6000 nits 輝度重複性： 1 % 量測儀均勻度精度：2 % 4 加強型 CCD (ICCD) 使用光放大管提供客製輸入畫素：圓心位置判斷精度： 6