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* * 微束分析 -方法和标准 Microbeam analysis -Guidelines and standards Excellent Testing Expert 卓越的测试专家 赵同新 Apr.26th.2012 目录 1. 基本知识 2. 扫描电镜 3. 扫描电镜+能谱仪应用 3.1 金属行业 3.2 其他领域 4. 电子探针 5. 电子探针的应用 5.1 金属 5.2 其他行业 6. 仪器的检测与鉴定 7. 其他可参考标准 7.1 X射线能谱仪透射电镜领域 7.2 俄歇电子能谱仪 7.3 X射线光电子能谱仪 1.基本知识 JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则 GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语 GB/T 21636-2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA)术语 ISO 22493:2008 Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Vocabulary ISO 23833:2006 Microbeam analysis -- Electron probe microanalysis (EPMA) -- Vocabulary 2.扫描电镜 GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则 GB/T 17722-1999 金属覆盖层厚度的扫描电镜测量方法 JB/T 7503-1994 金属履盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 ASTM E2142-08 Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope GB/T 22231-2008 颗粒物粒度分布/纤维长度和直径分布 GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品扫描电子显微镜分析方法 GB/T 14593-2008 山羊绒、绵羊毛及其混合纤维定量分析方法 扫描电镜法 SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分： X射线衍射-扫描电子显微镜法 SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法 ASTM C1723-10 Standard Guide for Examination of Hardened Concrete Using Scanning Electron Microscopy 3.X射线能谱仪 GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则 GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法 GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析方法通则 GB/T 25189-2010 微束分析 扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法 ASTM E1508-98(2008) Standard Guide for Quantitative Analysis by Energy-Dispersive Spectroscopy ISO 22309:2011 Microbeam analysis -- Quantitative analysis using energy-dispersive spectrometry (EDS) for elements with an atomic number of 11 (Na) or above 3.1金属 GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法 GB/T 17723-1999 黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法 3.2其他行业 SY/T 6189-1996 岩石矿物能谱定量分析方法 GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物 GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分：扫描电子显微镜X射线能谱法 GB/T 2679.11-2008 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱仪 GB/T 17361-1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及x射线能谱鉴定方法 ASTM E1588-10e1 Standard Guide for Gunshot Residue Analysis by Scanning Electron Microscopy/Energy Dispersive X-Ray Spectrometry 4.电子探针 GB/T 15074-2008 电子探针定量分析方法通则