一种新型数字芯片测试仪的设计与实现-自动化仪表.PDF

一种新型数字芯片测试仪的设计与实现摇 李天义,等 一种新型数字芯片测试仪的设计与实现 Designand Realizationof a New Digital ChipTester 1,2 3 1 1 李天义 摇 耿跃华 摇 富摇 坤 摇 张梅芳 (河北工业大学计算机科学与软件学院 ,天津摇 300401;1 中国人民解放军93642部队 ,河北 唐山摇 064000;河北工业大学电气与自动化学院 ,天津摇 300401)2 3 摘摇 要:针对传统数字芯片测试设备检测芯片固定、PC机软件不可扩展、测试电路复杂等问题,设计了一种新型数字芯片测试仪。 仪 器设计为上位机和下位机两部分,并着重突出了上位机的作用。 对组成上位机的编译模块、数据管理模块、SQLite数据库、测试模块 和串口设置模块进行了研究,同时对以PL2303芯片为主的串口通信模块和以STC89C52为控制芯片的下位机电路进行了设计。 系统 能够准确地检测组合逻辑芯片、定位故障点,并能动态生成测试集、扩展可测组合逻辑芯片。 关键词: 编译功能摇 SQLite数据库摇 芯片测试摇 测试集摇 结果集摇 故障检测 中图分类号: TP36摇 摇 摇 摇 文献标志码: A Abstract: Aiming at the problems of traditional digital chip test equipment, such as the tested chips are fixed, PC software cannot be extended,and the testing circuit is complex,etc. ,a new digital chip tester has been designed. The design consists of two parts:the host computer,and the lower computer, and the role of the software in host computer is highlighted emphatically. The compositions of host computer,includingcompilationmodule,datamanagementmodule,SQLitedatabase,testmoduleandserialport setupmoduleareresearched, in addition,the serial communication module based on PL2303 asthe core,and the circuit with STC89C52 as control chip in lower computer are designed. The system can precisely detect combinational logic chip,positioning the fault point,and dynamically create test set,expand measurable combinational logic chip. Keywords: Compilation function摇 SQLite database摇 Chip test摇 Test set摇 Result set摇 Fault detection 轻型数据库管理模块,配合下位机相应的硬件电路,有 0摇 引言 效地解决了上述问题。 随着电子技术的不断发展,组合逻辑芯片被广泛 1摇 系统总体设计 使用在数字系统研究中,因其反复使用、频繁插拔等, 极易出现故障。 为及时检测出问题芯片、提高芯片利 1.1摇 测试原理分析 用率,各大高校和实验室纷纷推出自己的芯片测试仪