聚合物电致发光器件工作层热效应的喇曼光谱研究 - scholarmate.pdf

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第卷第期光子学报年月聚合物电致发光器件工作层热效应的喇曼光谱研究秦哲王剑张存洲中国民航大学中欧航空工程师学院天津南开大学物理科学学院光子学中心天津摘要以喇曼光谱和红外测温仪为表征手段研究了聚合物电致发光器件在施加不同电流密度的工作条件下器件内部热效应对器件老化的影响通过实验得到器件内发光层的斯托克斯喇曼信号和反斯托克斯喇曼信号强度的比值代入波尔兹曼方程计算得到该层对应的温度从而达到精确测量器件内部工作温度的目的通过对器件施加的电流密度发现器件内部工作温度逐渐升高最终达到有机层的玻璃化转变温度后发

第42卷第4期 光 子 学 报 V01.42No.4 2013年4月 ACTAPH()TONlCASINICA 2013 April doi:10.3788/gzx0392 聚合物电致发光器件工作层热效应的喇曼光谱研究 秦哲1,王剑1,张存洲2 (1中国民航大学中欧航空工程师学院,天津300300) (2南开大学物理科学学院光子学中心,天津300071) 摘 要:以喇曼光谱和红外测温仪为表征手段,研究了聚合物电致发光器件在施加不同电流密度 的工作条件下器件内部热效应对器件老化的影响.通过实验得到器件内发光层的斯托克斯喇曼信 号和反斯托克斯喇曼信号强度的比值,代入波尔兹曼方程计算得到该层对应的温度,从而达到精 确测量器件内部工作温度的目的.通过对器件施加0~169mA/cm2的电流密度,发现器件内部工 作温度逐渐升高,最终达到有机层的玻璃化转变温度后,发光层材料发生相变,变成游离状的液 态,这种状态不稳定,造成发光层材料的局部缺陷,使得器件阴阳极短接导致器件短路,从而发 光失败.实验表明喇曼光谱是一种探测薄膜器件内部_T-作层温度的有效手段. 关键词:喇曼光谱;热致老化;斯托克斯;反斯托克斯;聚合物电致发光器件 中图分类号:0657.3 文献标识码:A Raman ofThermalEffectof Diodes Light—Emitting SpectraStudy Polymer Cun—zhou2 Zhel,WANGJianl,ZHANG QIN Aviation Aviation 300300,China) (1 UniversityofChina,Tianjin Si”(卜E“ro户PⅡ,,hlstituteof Engineering.Civil (2PhotonicsCenter.Nankai 7,300071,China) Universit3,,Tianji andinfrared areusedforthe ofinternal Abstract:Raman spectra imagingsystems study of diodes.Thethermal ofpolymerlight— temperaturespolymerlight—emitting degradations densitiesare is diodeswithdifferentcurrent emitting investigated.Ramanintensityproportional internal

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