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JTAG 接口定义 2009-12-14 17:32 什么是jtag 接口 JTAG (Joint Test Action Group ，联合测试行动小组 ) 是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测 试及对系统进行仿真、调试， JTAG 技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路 T AP （Test Access Port ，测试访问口），通过专用的 JTAG 测试工具对内部节点进行测试。 目前大多数比较复杂的器件都支持 JTAG 协议，如 ARM 、 DSP 、FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输 。 JTAG 测试允许多个器件通过 JTAG 接口串联在一起，形成一个 JTAG 链，能实现对各个器件分别测试。 JTAG 接口还常用于实现 ISP （ In-System Programmable 在系统编程）功能，如对 FLASH 器件进行编程 等。 通过 JTAG 接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。 目前 JTAG 接口的连 有两种标准，即 14 针接口和 20 针接口，其定义分别如下所示。 14 针JTAG 接口定义： 14 针 JTAG 接口定义引脚 名 称 描 述 1 、 13 VCC 接电源 2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 地 3 nTRST 测试系统复位信号 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 TDO 测试数据串行输 12 NC 未连 20 针 JTAG 接口定义引脚 名 称 描 述 VTref 目标板参考电压，接电源 2 VCC 接电源 3 nTRST 测试系统复位信号 4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND 地 5 TDI 测试数据串行输入 7 TMS 测试模式选择 9 TCK 测试时钟 11 RTCK 测试时钟返回信号 13 TDO 测试数据串行输 15 nRESET 目标系统复位信号 17 、 19 NC 未连 下面以S3C4510B 开发板为例说明JTAG 接口： 在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG 接口调 试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测JTAG 接口的 TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO 信号是否已与 S3C4510B 的对应引脚相连，其次应检测 S3C4510B 的 nEWA IT 引脚 （ Pin71 ）是否已上拉， ExtMREQ 引脚 （ Pin108 ）是否已下拉，对 这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B 不能正常工作或无法与JTA G 接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。 系统上电后，可通过示波器查看 S3C4510B 对应引脚的输 波形，判断是否已 正常工作，若S3C4510B 已正常工作，在使能片内 PLL 电路的情况下， SDCLK/ MCLKO 引脚 （ Pin77 ）应输 频率为 50MHz 的波形，同时， MDC 引脚 （ Pin 50 ）和其他一些引脚也应有波形输 。 在保证 S3C4510B 已正常工作的情况下，可使用