X射线测厚影响因素分析、技术进展及其在冶金工业中的应用（下）.pdfVIP

第35卷 第2期 冶 金 自 动 化 Vo1．35 No．2 2011年 3月 MetallurgicalIndustryAutomation Mar．2011 · 综述与评论 · X射线测厚影响因素分析 、技术进展及其 在冶金工业 中的应用 (下) 玛 娥 梧 (冶金 自动化研究设计院，北京 100071) 中图分类号：TH744．15 文献标志码 ：A 文章编号：tO00—7059(2011)02-0001-03 InfluencefactoranalysisandtechnicalprogressofX-raythickness measurementanditsapplicationinmetallurgicalindustry(B) MA Zhu—WU (AutomationResearchandDesignInstituteofMetallurgicalIndustry，Beijing100071，China) 3 典型 x射线测厚系统及其在冶金工业 司x射线测厚系统包括 以下主要设备：(1)C型 中的应用 架 。包括 2～6个或更多个测量点 (即电离室)，高 国外有许多生产 x射线测厚仪的厂家，如英 温计 (为温度校准提供温度)和带放大器的变送 国的Daystrom公司，德 国的 IMS(工业测量系统) 器 。(2)水冷循环单元。供密封式 c型架二次水 公司，美国的DMC公司、ThermoRadiometrie公司、 冷循环。(3)中央处理单元 。包括 IMSMEVNET 环球公司，日本 的Toshiba(东芝)公司等，他们 的 数据管理和处理系统以及 x光机控制单元 ，其中， 产品基本上都是按上两节所述原理和进展 以及考 MEVINET数据管理和处理系统的任务是作为测 虑 了影响精度的各种因素 (但补正程度不尽相 同) 得数据 的评估和处理 以及 图像化、信号传输与信 而设计的。图6列出了国内用得较多的德 国IMS 号通信之用；X光机控制单元的任务是进行 C型 公司的多通道 x射线测厚系统作为例子。IMS公 架的控制及快 门控制 。(4)控制台。操作员通过 水冷循环单元 汁舁 L至 … ’ 品数 l个x射线管 一一Cx射型架线管 ————fl 啊 I 同 档案 ＼ C型架 ·。 。 。 。【。。。。L J- 1温度澳量l I I— l l l I L————J L———————_ J __I：暑n1三：-一 l 以 远程维护诊／j断 太网 控制和优化级 x制光单机元控 l用户 检测器含(电离室)l／／／ 由 直 卣