X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定.pdfVIP

2013年 lO月 云南冶金 0ct．2013 第 42卷第 5期 (总第242期 ) YUNNAN METALLURGY Vo1．42．No．5 (Sum242) x射线荧光光谱法测定工业硅样品中 Fe的不确定度评定 顾 松 ，杨海岸 ，刘英波 ，罗 舜 ， (1．昆明冶金研究院，云南 昆明 650031； 2．国家有色金属产品质量监督检验 中心 (昆明)，云南 昆明 650031) 摘 要：分析了运用x射线荧光光谱法测定工业硅中Fe含量时，可能对分析结果产生不确定度的各种原因。 依次对分析重复性 、标准物质 、分析曲线回归 、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定 ，最后计算了合 成标准不确定度以及扩展不确定度，并给出使用该方法检测工业硅中Fe含量所得分析结果的不确定度评定报告。 从评定结果得出结论 ，拟合分析 曲线的过程所引入的不确定度对整体影响是最大的。 关键词：X射线荧光光谱法 ；工业硅 ；不确定度 中图分类号：0657．34 文献标识码 ：A 文章编号：1006-0308 (2013)05-0101-05 UncertaintyEvaluationforAssayofFeinIndustrialSiliconSamplebyX—Ray FluorescentSpectrometry GU Song。 YANG Hai—an。 LIU Ying—bo ，LUO Sun， ， ， (1．KunmingMetallurgicalResearchInstitute，Kunming，Yunnan650031，China； 2．NationalNon—FerrousMetalProductsQualitySupervisionand InspectionCenter(Kunming)，Kunming，Yunnan650031，China) ABSTRACT：AUkindsofreasOUSfortheuncertaintycausedinthedeterminationofFecontentinindUStrialsilic0nbvX—rav．flu0． rescentspectrometryareanalyzedinthispaper．Thefollowingitemswhichcancauseuncertaintyareevaluatedinturn ：analysisrepeatabili— ty，standardreferencematerial，analysiscurveregression，weighing，andthesyntheticstandarduncertaintyandexpandeduncertaintyarefi- nallycalculated，andtheuncertaintyevaluationreportoftheFecontentdetemr inationanalysisresultforindustrialsiliconbythismethodsis alsosuppliedinthispaper．Theconclusionfrom theevaluationresultisthattheuncertaintycausedbytheprocessofanalysiscurvefittinghas thegreatestimpacttotheentirety． KEY W ORDS：X—rayfluorescentspectrometry；industrialsilicon；uncertainty x射线荧光光谱法运用广泛，可以