电子技术教案试卷.docVIP

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1.1 半导体基础知识 1. 本征半导体及其特点   纯净的半导体称为本征半导体。在热“激发”条件下,本征半导体中的电子和空穴是成对产生的;当电子和空穴相遇“复合”时,也成对消失;电子和空穴都是载流子;温度越高,“电子—空穴”对越多;在室温下,“电子—空穴”对少,故电阻率大。 2. 掺杂半导体及其特点 ( 1 ) N 型半导体:在本征硅或锗中掺入适量五价元素形成 N 型半导体, N 型半导体中电子为多子,空穴为少子;电子的数目(掺杂 + 热激发) = 空穴的数目(热激发) + 正粒子数;半导体对外仍呈电中性。 ( 2 ) P 型半导体:在本征硅或锗中掺入适量三价元素,形成 P 型半导体,其空穴为多子,电子为少子;空穴的数目(掺杂 + 热激发) = 电子的数目(热激发) + 负粒子数;对外呈电中性。 在本征半导体中,掺入适量杂质元素,就可以形成大量的多子,所以掺杂半导体的电阻率小,导电能力强。   当 N 型半导体中再掺入更高密度的三价杂质元素,可转型为 P 型半导体;反之, P 型半导体也可通过掺入足够的五价元素而转型为 N 型半导体。 3. 半导体中的两种电流 ( 1 )漂移电流:在电场作用下,载流子定向运动所形成的电流则称为漂移电流。 ( 2 )扩散电流:同一种载流子从浓度高处向浓度低处扩散所形成的电流为扩散电流。 4. PN 结的形成   通过一定的工艺,在同一块半导体基片的一边掺杂成 P 型,另一边掺杂成 N 型, P 型和 N 型的交界面处会形成 PN 结。   P 区和 N 区中的载流子存在一定的浓度差,浓度差使多子向另一边扩散,从而产生了空间电荷和内电场;内电场将阻多子止扩散而促进少子漂移;当扩散与漂移达到动态平衡时,交界面上就会形成稳定的空间电荷层(或势垒区、耗尽层),即 PN 结形成。 5. PN 结的单向导电性   PN 结正向偏置时,空间电荷层变窄,内电场变弱,扩散大于漂移,正向电流很大(多子扩散形成), PN 结呈现为低电阻,称为正向导通。正向压降很小,且随温度上升而减小。   PN 结反向偏置时,空间电荷层变宽,内电场增强,漂移大于扩散,反向电??很小(少子漂移形成), PN 结呈现为高电阻,称为反向截止。反偏电压在一定范围内,反向电流基本不变(也称为反向饱和电流),且随温度上升而增大。 6. PN 结的电容特性 (1)势垒电容CB:当外加在PN结两端的电压发生变化时,空间电荷层中的电荷量会发生变化,这一现象是一种电容效应,称为势垒电容。CB是非线性电容。 (2)扩散电容CD:当PN结正向偏置时,多子扩散到对方区域后,在PN结边界附近有积累,并会有一定的浓度梯度。积累的电荷量也会随外加电压变化,引起电容效应,称为扩散电容。CD也是非线性电容。 1.2 半导体二极管1. 二极管的结构及类型 ????半导体二极管就是一个封装的PN结。 ????半导体二极管的类型 ????(1)按使用的半导体材料不同可分为硅管和锗管; ????(2)按结构形式不同可分为平面型和点接触型两种。通常,平面型的结面积较大,结电容也较大,适用于低频、大电流的电路;点接触型结面积小,结电容也小,适用于高频、小电流的电路。 2. 二极管的伏安特性及主要参数 (1)伏安特性表达式 ????二极管是一个非线性器件,其伏安特性的数学表达式为 ???????????????????????????????????????????? ????????????当,且时,; ????????????当,且时,。 ????在室温下,。 ????由此可看出二极管具有单向导电的特性。 (2)伏安特性曲线 ????二极管的伏安特性曲线如图 1.1所示。  ? 图 1.1 二极管的伏安特性曲线 ????正向特性:小于死区电压(硅管是0.5V,锗管是0.1V)时,。正向部分的开始阶段电流增加的比较慢。在电流比较大时,二极管两端的电压随电流变化很小,称为导通电压(硅管:0.7V,锗管:0.3V)。?????????? ????反向特性:当反向电压,且小于时,,反向饱和电流很小。当反向电压的绝对值达到后,反向电流会突然增大,二极管反向击穿。击穿后,当反向电流在很大范围内变化时,二极管两端的电压几乎不变,击穿后的反向特性有稳压性。 ????击穿电压低于4伏的击穿主要是齐纳击穿;击穿电压大于6伏的击穿为雪崩击穿;击穿电压介于4伏与6伏之间时,两种击穿都可能发生,也可能同时发生。 ????二极管发生反向击穿时,如果回路中的限流电阻能将反向电流限制在允许的范围内,二极管不会损坏。当反向电压降低后,管子仍可以恢复到原来的状态,这就是电击穿。如果限流电阻太小,使反向电流超过其允许值,则二极管会发生热击穿,造成永久性损坏。 (3)

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