YK2-16v1SPC管理程序-3828.docxVIP

公司管理体系文件 友华精密电子(吴江)有限公司程序文件文件番号：YK2-16版 本：1统计过程控制程序作成：ISO事务局审核：批准：目的运用统计分析技术，以掌握问题趋势和纠正、预防过程变差，确保质量能得到有效控制。适用范围适用于本公司汽车产品相关统计技术的运用及统计过程控制。职责权限3.1 统计技术的应用：各单位。3.2 统计过程控制之数据分析：品管。术语定义SPC即“统计过程控制”。规定内容5.1 过程控制系统以及对 SPC的理解统计过程控制(SPC)是通过统计技术来收集、分析过程信息，并反馈到过程的一种方法。5.2 过程变差及统计控制状态5.2.1 变差及过程受控：(1) 引起过程变差(数据飘移)的原因共有两类，即“普通原因”及“特殊原因”：·普通原因：造成过程随时间推移具有稳定和重复性质的变差原因；·特殊原因：不是始终作用于过程的变差原因。(2) 只有当变差仅由“普通原因”引起且不改变时，则该过程的输出将是可预测的；5.2.2 当过程变差仅存在“普通原因”而无“特殊原因”时，则称该过程处于“统计控制状态” (或称之为“受统计控制”、“受控”)。5.3 SPC的任务：5.3.1 过程控制的目标：(1) “可接受的过程”：被顾客及本公司认为是可接受的过程，其输出必须是处于“统计过程控制”，且其产品变差必须小于规定的图纸公差；(2) 过程控制的目标：为获得上述“可接受的过程”必须对影响过程的原因采取经济合理的纠正措施，并避免出现如下两种状况：· 在无需控制时，却对过程采取的措施(即：“过度调整”)；· 当需要控制时，却未对过程采取任何措施。5.3.2 SPC的任务：通过数据分析及对过程能力的监控，以指导达成上述“过程控制的目标”。5.3.3 SPC任务之作业项目包括如下：(1) 基本统计技术的选择及应用；(2) 控制图分析；(3) 过程能力的计算和分析。5.4 基本统计技术的选择及应用：5.4.1 针对公司汽车产品的生产制造过程，至少须采用如下统计技术，且必须在相应的控制计划中明确规定其使用的时机、场合：(1) “计量型”数据：采用X-R控制图并予分析、评价；(2) “计数型”数据：采用P控制图并予分析、评价。5.4.2 各单位可在上述前提下，对进货、制程及最终检验确定其他适用的统计技术，并以此对所确定的产品特性予以分析、控制，此依照【数据分析和应用程序】（YK2-15）执行。5.4.3 针对实验室所使用的统计技术，由实验室管理相关规定执行。5.5 执行SPC所用控制图的制作及分析前提：5.5.1 于控制图制作、分析前，应先满足下列要求：(1) 公司管理者应建立适合于 SPC实施的环境；(2) 执行SPC分析人员应对拟分析的过程了解，且已接受过SPC相关厂内或厂外培训；(3) 必须先确定拟作图的特性(即：拟用“控制图”来控制的方面)，这些特性可能包括：a. 顾客需求方面的特性(如：“特殊特性”等)。b. 目前过程中所存在的或潜在问题点方面(即：内部有意愿拟控制的方面)；c. 特性间的相互关系(即：若一项目的几个不同特性类似，则只对一个特性绘图)；(4) 选用适宜的测量系统，以便能反映拟控制的产品特性(见【测量系统分析程序】（YK2-18）)；(5) 应先消除不必要的外部变差原因，以避免存在那些无需控制图便足以纠正的明显问题。5.5.2 对“控制图”的必要说明：(1) 控制图上、下控制限是基于过程自然变化而计算得来，其与产品的规范限值不同；(2) 产品规范的中心值是控制图中心线的期望“目标”，当中心线离该“目标”越远，则过程状况越差；(3) 通过“控制图”可找出影响过程的“特殊原因”，并把工作重点放在减少过程中的“普通原因”变差。(4) 持续使用“控制图”对过程施加影响，可促进达成对过程的持续改进。5.6 “计量型”数据之 X-R 控制图及其分析、评价：5.6.1 各单位可使用【X-R控制图】或使用顾客提供的或现已具有的类似表单执行该控制图的绘制、分析。5.6.2 X-R控制图的数据收集及计算、异常判定：(1) 数据收集：·样本容量：子组由4~5个(至少4个)连续测量的数据组成；·子组数量：至少需25个子组；·子组频率：由实际过程的稳定情况以及拟控制的特性决定(如每小时、每天、每周等)。*于过程初期，为能检查不稳定的因素，子组的时间间隔可较少，反之，可以较大。(2) 计算：a. 子组均值 X 及极差 RX=(X1+X2+…+Xn) / nR=Xmax - XminX1、X2…Xn：子组内的每个测量值；n：子组中的样本容量；Xmax/Xmin：子组中的最大/最小值.b. X-R控制图之平均极差 R及过程均值 X：R=(R1+R2+…+Rk) / kX=(X1+X2+…+Xk) / kk：子组数量；R1 / X1：