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ICT-33C数字集成电路测试仪ICT-33C集成电路测试仪是一台性价比高的高科技产品 图1 ICT-33C集成电路测试仪 （1） 器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判别其逻辑功能好坏。 （2） 器件型号识别：当不知被测器件的型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。 （3） 器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。 （4） 器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能一致，引脚排列一致的器件型号。 （5） 内部RAM 缓冲区修改：仪器可对内部缓冲区进行多种编辑。 （6） 微机通讯：仪器可通过串行口接受来自微机的数据。 （7） ROM 器件读入：仪器可将128K 以内的ROM 器件内的数据读入并保存。 （8） ROM 器件写入：仪器可将内部缓冲区的数据写入到128K 以内的ROM 器件中。 3、ICT-33C测试范围： （1）TTL74、54系列. （2）TTL75、55系列. （3）CMOS40、45、14系列. （4）光耦合器、LED系列. （5）EPROM、EEPROM、RAM、FLASH ROM系列. （6）常用单片机系列. （7）常用微机外围电路系列。 4、ICT-33C数字集成电路测试仪 图2 （1）“0—9”键为数字键，用于输入被测器件型号、引脚数目。 （2）“好坏判别/查空”键为多功能键。若输入的型号为EPROM、单片机（8031 除外）器件，则它使仪器对被测器件进行查空操作；在其它型号时，它使仪器对被测器件进行好坏判别。若第一次按下了数字键，则至少要在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受；若在没有输入型号数字的时候输入该键，则仪器将对前一次输入的器件型号进行好坏测试。此功能用于测试多只相同的器件。 （3）“型号判别“键为功能键，用于判别被测器件的型号，在未输入任何数字的前提下才是有效。 （4）“代换查询”键为功能键，用于查询是否有相同逻辑功能相同引脚排列的器件，至少在输入三位型号数字后，输入该键才能被仪器接受。 （5）“老化/比较”键为多功能键，用于对被测器件进行连续老化测试，至少在输入三位型号数字后才能被仪器接受。当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件（8031除外）时，它将被测器件内部的数据与机内RAM中的数据进行比较。 （6）“读入”键为功能键，当输入的型号是EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机器件时才有效，它将被测器件内部的数据读入到机内RAM 中并保存。 （7）“写入”键为功能键，与“读入”键相似，它将机内RAM 中的数据写入到被测器件中并自动校验。 （8）“编辑/退出”键为多功能键，它可对机内RAM 中的数据进行编辑（填充、复制、查找、修改）；当对单片机及具有数据软件保护功能的FLASH ROM 器件进行写入时，该键也是加密功能键；当在进行老化测试时，按该键可退出老化测试。 （9）“F1/上”键为多功能键，当开机后或测试完成后，该键可选择测试电压；而在RAM 数据编辑时，该键使地址减1。 （10）“F2/下”键为多功能键，当开机后或测试完成后，按该键进入与微机通讯状态；而在RAM 数据编辑时，该键使地址加1。 （11）“清除”键为功能键，用于结束错误操作，或清除已输入的型号。 5、应用举例 以测试74LS00为例 （1）开启电源，仪器自检： ①液晶显示屏显示“CHECP—” 并伴有一声高音提示。 ②测试电源指示灯、FAIL指示灯亮。仪器进入自检状态： 自检正常，有两声低音提示，显示屏显示“PLEASE”，可进行正常测试操作。 在仪器显示“PASS”、“FAIL”、“PLEASE”时，可用“F1”键来循环选择测试电压，每按一次“F1”键就更换一种测试电压，确认后按其它任意键即可完成选择。 自检失败，有两声低音提示，显示“1—”数值。仪器不能进行各项操作， （2）器件好坏判别： ①自检正常后，输入7400，显示7400。 ②确认无误后，将被测器件74LS00放上锁紧插座并锁紧，如图3所示。 图3 ③按下“好坏判别”键。 若显示PASS，并伴有高音提示，表示器件逻辑功能完好，黄色LED灯点亮。 若显示FALL，同时有低音提示，表示器件逻辑功能失效，红色LED灯点亮。 ④大多数器件测试时间极短，但也有部分器件测试时间较长（例如存储器），测试过程中仪器不接受任何命令输入。 （3）器件老化测试 ①输入7400，显示7400。 ②将74LS00放上锁紧插座并锁紧，按“老化”键，仪器即对被测器件进行连续测试。此时键盘退出工作，若用户想退出老化测试状态，只要松开锁紧插座即可，此时仪器将显示FAIL，同时键盘恢复工作。 ③对多只相同型号的器件进行分时老化时，每换一只器件都要重新输入型号。 （4）器件型号判别： ①将被测器件插于锁紧