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光 电 子 ·激 光 第 14 卷 第 5 期 2003 年 5 月 Vol. 14 No. 5 May 2003 J ournal of Optoelectronics ·Laser 光敏二极管的可靠性和寿命分析 张生才 , 郑云光 , 张世林 , 李树荣 , 赵毅强 , 姚素英 , 朱胜利 (天津大学电子电信工程学院 ,天津 300072) 摘要 :在大量实验的基础上 ,通过理论分析和数据处理 ,采用威布尔概率纸图估法 ,评估了为某种设备的 ( ) 特殊需要生产的一种新型硅光电探测器的可靠性和寿命 。在正常工作条件 300 K 时 ,器件的平均寿命 8 为 1. 04 ×10 h ;在 40 ℃时 ,器件的失效率等级达到国家标准规定 6 级 。详细分析了光敏二极管的失效 模式及失效机理 ,提出了提高光敏二极管的可靠性和寿命的措施 。 关键词 :光敏二极管 ; 威布尔概率 ; 可靠性 ; 寿命 ; 失效模式 ; 失效机理 ( ) 中图分类号 :TN40. 6 文献标识码 :A 文章编号 2003 The Analysis for Reliability and Life of the Photosensitive Diodes ZHANG Shengcai , ZHENG Yunguang , ZHANG Shili , LI Shurong , ZHAO Yiqiang , YAO Suying , ZHU Shengli ( ) School of Electronic Information Engineering ,Tianjin University ,Tianjin ,300072 ,China Abstract : The reliability and life of a new silicon photoelectric detector ,which was produced for the special demand of some sort of equipment have been evaluated. The evaluation is on the basis of large amounts of experiments , theoretic analysis and data processing , adopting the Weibull probability drawing evaluating 8 method. The average life of this device is 1. 04 ×10 h at the normal working temperature 300 K. The invalidity of the devices have reached the
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