SunScan冠层分析仪在测量大豆叶面积指数中的应用.pdfVIP

生态学杂志ZTD)GNG ]E(Q)+M EF /*EME@L! 2##$ ，78 （ ）：$32=$33 ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! ! !#!$%# 冠层分析仪在测量大豆叶面积 指数中的应用! !! 刘! 刚! 谢! 云 ! 高晓飞! 段兴武 （北京师范大学地理学与遥感科学学院地表过程与资源生态国家重点实验室，北京 ##$% ） 摘! 要! ’()’*+) 冠层分析仪是一种利用间接测量法观测叶面积指数（,-. ）的仪器，通过 给定反映植被几何特征的椭球体叶倾角分布参数（/,-01 ），测量透射率获得 ,-. 。于 2## 、2##3 年在黑龙江省嫩江县鹤山农场布设大豆试验地，通过比较,.45## 叶面积仪直 接测量的,-. 和 ’()’*+) 冠层分析仪间接测量的,-. ，得出/,-01 率定结果，并验证了 ’()’*+) 冠层分析仪测量,-. 的精度。结果表明：用’()’*+) 测量大豆冠层,-. 时，/,-01 取值为67 # ；设定该参数后，’()’*+) 测量的,-. 与,.45## 测量结果一致，二者拟合的线性 回归方程显著；随生长季叶面积的变化， ’()’*+) 测量误差略有变化；播种后# 8 $ 9 ，’()4 ’*+) 观测值偏低%7 2: ，播种;3 9 以后观测值偏高27 : ，播种后$ 8 ;3 9 与,.45## 观 测值十分接近，误差只有27 #: ；经过参数率定后的’()’*+) 测量,-. 效果较好。 关键词! ’()’*+) 冠层分析仪；椭球体叶倾角分布参数；叶面积指数；大豆 中图分类号! ;6 455! 文献标识码! -! 文章编号! ###=6$;# （2##$ ）#=#$32=# ’’()$%*)+# +, !#!$%# $%#+’- %#%(-.). .-.*/0 )# 0/%.1)#2 (/%, %1/% )#3/4 +, .+-5/%#6 ,. ?+)@ ，A./ B() ，?-C AD+E4FGD ，0-H AD)@4I( （!#$ %$ ’#()*#)* )+ ,#*- !.*+ #/$ 0*)/$11$1 #23 4$1).*/$ ,/)5)6 ，7)55$6$ )+ 8$)6*#9 - #23 4$:)$ !/;$2/$ ，$;= ;26 )*:#5 ?2;@ A$*1; ，$;= ;26 ##$% ，7-;2# ）B 7-;2$1$ C).*2#5 )+ ,/)5)6 ，2##$ ，78 （ ）：$32=$33 J 5.*1%$* ：’()’*+) *+)EKL +)+MLNDN NLNOGP DN +) D)NOQ(PG)O FEQ D)9DQG*OML PG+N(QD)@ MG+F +QG+ D)4 9GR （,-. ）J STG D)NOQ(PG)O *+) @DUG ,-. U+M(GN VL PG+N(QD)@ OTG Q+ODE EF OQ+)NPDOOG9 Q+9D+ODE) OTQE(@T *+)EKL OE D)*D9G)O Q+9D+ODE) ，V+NG9 E) OTG *+)EKL @GEPGOQL FG+O(QGN 9GN*QDVG9 VL GMMDK4 NED9+M MG+F +)@MG 9DNOQDV(ODE) K+Q+PGOGQ （/,-01