矿浆载流x荧光分析仪理论模型探讨.pdfVIP

第 2卷 第 3期 北京矿冶研究总院学报 VoL2，No．3 199 3 年 9月 JOURNAL OF BGRIM M September 1993 se 矿浆载流x荧光分析仪理论模型探讨 李 忠 叉 。 (自动化研究室) 摘 蔓 基于x荧光的物理行为，详细阐述了荧光强度和脉冲计数的关系，x射线所固 义 《 奏关键饲塑．荧光啦空§／散…射强度度吸吸收…定律选…代运算算 ，婕：轷L，，， AN APPRoACH To THEoRETICAL M oDEL 研 议 0F oN STREAM X—RAY FLUoRESCENCE ANA yZER FoR FLoTATIoN PULP LfZhonsyf (Department0，ProcessAutomation，~ RIMM) ABSTRACT 0n thc basis of the physicalbehavior of x—ray fluorescence， the relationship offluorescenceintensity with pulseCOR~,tS．that0ffluOT惯 ceT inten- sity with scattering intensity and thatof scattering intensi with pulp density， aswellas the inherentabso~-ption law forx—raysaredescribed in derail．A the- oretic~lcalculation formula of scattering intensity and fluorescence intensity is derivde ．The calculation method with iteration llsedon com puter and b】ock dia- grams of programmeare introduced． KEY W ORDS On_stream Fluorescence intensity Scattering intens i押 AbsorDtion law Iteration 目前，国内外大量采用x荧光分析仪作为分析手 段。实际上， x荧光分析仪只能得瓢 试样 中备元素的表观X荧光强度，蔚不能直接给 出试样 中备元素的品位值。 为了使x荧光 分析仪快速而准确地给出试样 中各元素的品位值，必须建立被测元素含量和荧光强度的关 系式，提交电子计算机进行数据处理。通常把表示各种工艺过程 中变量问的关系式统称为 数学模型 。 研究数学模型的方法，大体分为两种：一种是经验模型，它是根据试验的数据，进行 统计，寻找规律来处理变量 与变量之间的关系：二是理论模型，它是根据公认的定义，定 理、公式来推导，确定代表系统属性的关系式。研究X荧光分析仪数学模型也是应用了这 两种方法：经验模型—— 回归分析法；理论模型—— 基·本参数法。 基本参数法，只需最少量的标样，就可 以根据所测量的分析线强度，以及利用原级光 谱分布、吸收系数、荧光产额和吸收陡变等 4个基本参数的表值 ，直接 计算被分析元素的j ·48 · 北京矿冶研究总院学报 含量。本方法的优点是无论何种基体，只需极少数的标样，而且不需用经验系数。其缺点 是采用了目前还不太准确的质量衰减系数和荧光产额等参数，但此缺点在许多物理学家努 力下 ，正在迅速地得到克服。 本文主要介绍矿浆载流x荧光分析仪的理论模型。