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1．系统误差产生的原因和消减的方法分别有哪些? 原因：（1）方法误差。由分析方法不够完善所致。例如在某一容量分析中, 由于指示剂对反应终点的影响, 致使滴定终点与理论等当点不能完全重合所致的误差。 （2）仪器误差 常由使用未经校准的仪器所致。例如量瓶的标称容量与真实容量的不一致。 （3）试剂误差 由所用试剂（包括实验用水）含有杂质所致。 （4）操作误差 由测量者感觉器官的差异，反应的灵敏程度或固有习惯所致。如在读数时对仪器标线的一贯偏右或偏左。 （5）环境误差 由测量时环境因素的显著改变(例如室温的明显变化)所致。 消减的方法：（1）仪器校准 测量前预先对仪器进行校准，并对测量结果进行修正。 （2）空白实验 用空白实验结果修正测量结果，以消除实验中各种原因所产生的误差。 （3）回收率实验 在实际样品中加入已知量的标准物质和样品于相同条件下进行测量，用所得结果计算回收率，观察是否能定量回收，必要时可用回收率作校正因子。 （4）标准物质对比分析法 ①将实际样品与标准物质在完全相同的条件下进行测定。当标准物质的测定值与其保证值一致时，即可认为测量的系统误差已基本消除 ； ②将同一样品用不同反应原理的分析方法进行分析。例如与经典分析方法进行比较，以校正方法误差。 2、分别写出单因素方差分析和双因素方差分析的步骤 单因素：（1）提出假设 一般提法 H0 ： m1 = m2 =…= mm 自变量对因变量没有显著影响 HA ： m1 ，m2 ，… ，mm不全相等 自变量对因变量有显著影响 （2）构造检验统计量 a.计算水平的均值： b.全部观察值的总均值： c.误差平方和：总误差平方和： 水平项平方和 误差项平方和 d.均方(MS) e.计算检验统计量 F （3）统计决策 将统计量的值F与给定的显著性水平(的临界值F(进行比较，作出对原假设H0的决策 根据给定的显著性水平(，在F分布表中查找与第一自由度df1＝m-1、第二自由度df2=n-m 相应的临界值 F( 若FF( ，则拒绝原假设H0 ，表明均值之间的差异是显著的，所检验的因素对观察值有显著影响 若FF( ，则不能拒绝原假设H0 ，表明所检验的因素对观察值没有显著影响 双因素方差分析 （1）提出假设： 对行因素提出的假设为 H0： m1 = m2 = … = mi = …= mk (mi为第i个水平的均值) H1： mi (i =1,2, … , k) 不全相等 对列因素提出的假设为 H0： m1 = m2 = … = mj = …= mr (mj为第j个水平的均值) H1： mj (j =1,2,…,r) 不全相等 （2）构造检验的统计量 计算平方和(SS)：总误差平方和、 行因素误差平方和 列因素误差平方和 随机误差项平方和 计算均方(MS)：行因素的均方，记为MSR，计算公式为 列因素的均方，记为MSC ，计算公式为 随机误差项的均方，记为MSE ，计算公式为 计算检验统计量(F) 检验行因素的统计量 检验列因素的统计量 (3)统计决策: 将统计量的值F与给定的显著性水平(的临界值F(进行比较，作出对原假设H0的决策 根据给定的显著性水平(在F分布表中查找相应的临界值 F( 若FRF( ，则拒绝原假设H0 ，表明均值之间的差异是显著的，即所检验的行因素对观察值有显著影响 若FC F( ，则拒绝原假设H0 ，表明均值之间有显著差异，即所检验的列因素对观察值有显著影响 什么是原子吸收光谱分析中的电离干扰？用那些方法可以消除电离干扰？ 产生的原因：在高温下原子的电离使基态原子数减少, 吸收下降, 称电离干扰. 消除方法: 加入过量消电离剂 所谓的消电离剂, 是电离电位较低的元素, 加入时，产生大量电子, 抑制被测元素电离.钙的电离电位为6.1eV，钾的电离电位为4.3eV。由于K电离使钙离子得到电子而生成原子。 如： K ---- K+ + e Ca2++ e --- Ca 4、化学干扰及其消除方法 产生的原因：化学干扰是指被测原子与共存元素发生化学反应生成稳定的化合物，影响被测元素原子化效率，统称化学干扰。 消除方法 选择合适的原子化方法：提高原子化温度，化学干扰会减小，在高温火焰中P043- 不干扰钙的测定。 (2) 加入释放剂：如：磷酸盐干扰Ca，当加入La或 Sr时，可释放出Ca。 (3) 加入保护剂 ：如：EDTA、8—羟基喹啉等，即有强的络合作用，又易于被破坏掉。 (4) 加基体改进剂 如：磷酸盐干扰Ca的测定，但当磷酸盐达到一定浓度时，所产生的干扰恒定。 (5）分离法：沉淀分离、萃取分离、离子交换等 5、塔板理论和速率理论