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芯片测试工程师职业发展常见问题解答.docx

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    芯片测试工程师职业发展常见问题解答

    一、选择题（共5题，每题2分）

    1.在芯片测试过程中，以下哪项是静态测试的主要目的？

    A.检测芯片在高速运行时的信号完整性

    B.验证芯片在不同温度环境下的稳定性

    C.测试芯片的逻辑功能是否符合设计规范

    D.评估芯片的功耗和散热性能

    2.以下哪种测试方法通常用于验证芯片的时序特性？

    A.功能测试

    B.封装测试

    C.时序测试

    D.可靠性测试

    3.在芯片测试中，ATE的全称是什么？

    A.AutomatedTestEquipment

    B.AdvancedTestEquipment

    C.

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