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2025年大学《文物保护技术》专业题库——文物保护电子显微技术应用
考试时间:______分钟总分:______分姓名:______
一、选择题(每题2分,共20分)
1.电子显微镜与光学显微镜的主要区别在于()。
A.放大倍数不同
B.成像原理不同
C.样品制备方法不同
D.以上都是
2.扫描电子显微镜(SEM)主要利用()来获得样品表面形貌图像。
A.透射电子束
B.硬X射线束
C.软X射线束
D.二次电子
3.透射电子显微镜(TEM)主要用于观察()。
A.样品表面形貌
B.样品内部精细结构
C.样品成分
D.样品晶体取向
4.电子显微镜需要将样品制成薄片,其主要原因是()。
A.提高样品导电性
B.减少样品吸收
C.增大样品与电子束的相互作用
D.以上都是
5.在电子显微镜样品制备过程中,离子减薄的主要作用是()。
A.制备超薄样品
B.去除样品表面污染物
C.改变样品内部结构
D.以上都是
6.能谱分析(EDS)主要用于测定()。
A.样品表面形貌
B.样品元素组成
C.样品晶体结构
D.样品内部应力
7.X射线衍射分析(XRD)主要用于测定()。
A.样品表面形貌
B.样品元素组成
C.样品晶体结构
D.样品内部缺陷
8.电子探针微区分析(EPMA)与能谱分析(EDS)的主要区别在于()。
A.空间分辨率不同
B.波长色散不同
C.能量色散不同
D.以上都是
9.在文物保护领域,电子显微技术主要用于()。
A.文物鉴定
B.文物断代
C.文物成分分析
D.以上都是
10.电子显微镜在文物修复中的应用主要体现在()。
A.确定文物材质
B.分析文物病害
C.指导文物修复
D.以上都是
二、填空题(每空1分,共20分)
1.电子显微镜的分辨率主要取决于__________和__________。
2.扫描电子显微镜(SEM)的成像模式主要有__________模式和__________模式。
3.透射电子显微镜(TEM)的样品厚度一般要求在__________以下。
4.离子减薄常用的离子束是__________。
5.能谱分析(EDS)的原理是__________。
6.X射线衍射分析(XRD)的原理是__________。
7.电子探针微区分析(EPMA)的样品制备比EDS更__________。
8.电子显微镜在文物鉴定中的应用主要体现在对文物__________和__________的分析。
9.电子显微镜在文物断代中的应用主要体现在对文物__________的分析。
10.电子显微镜在文物成分分析中的应用主要体现在对文物__________和__________的分析。
三、简答题(每题5分,共20分)
1.简述扫描电子显微镜(SEM)的成像原理。
2.简述透射电子显微镜(TEM)的成像原理。
3.简述文物样品在电子显微镜样品制备过程中的主要步骤。
4.简述电子显微镜在文物病害分析中的应用。
四、论述题(10分)
试述电子显微技术在古代金属文物保护中的应用,并举例说明。
试卷答案
一、选择题
1.D
*解析:电子显微镜与光学显微镜相比,放大倍数、成像原理、样品制备方法都不同。
2.D
*解析:扫描电子显微镜(SEM)主要利用二次电子来获得样品表面形貌图像。
3.B
*解析:透射电子显微镜(TEM)主要用于观察样品内部精细结构,因为它利用穿透样品的电子束成像。
4.D
*解析:电子显微镜需要将样品制成薄片,是为了减少样品吸收、提高样品导电性、增大样品与电子束的相互作用,以便获得清晰的图像。
5.A
*解析:离子减薄的主要作用是制备超薄样品,使其能够被电子束穿透,以便进行观察。
6.B
*解析:能谱分析(EDS)主要用于测定样品元素组成,通过分析样品对X射线的吸收和散射来确定元素种类和含量。
7.C
*解析:X射线衍射分析(XRD)主要用于测定样品晶体结构,通过分析样品对X射线的衍射来获取晶体结构信息。
8.D
*解析:电子探针微区分析(E
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