IMT014塞尺校验指导书.xlsVIP

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Sheet15

Sheet14

Sheet13

Sheet12

Sheet11

Sheet10

Sheet9

Sheet8

Sheet7

Sheet5

附表

内容

封面

标

文件名

版本

A

题

页序

版本

变更说明

制定

批准

日期

版本

页序

3.0参考

4.0定义

5.0职责

7.0附件

1.0目的

2.0范围

QUA003测量与监控装置控制程序

QA022计量编码作业指引

见QUA003《测量与监控装置控制程序》5.0款

C

1.被检的计量器具编码____________

检定日期______年______月______日

有效日期______年______月______日

检定原因口到有效期口异常处理(注：口)口其它___________

检定地点_____________________环境条件：温度________℃相对湿度________%

2.本次检定/校准所用主要计量标准器具编码____________________________

项目

NO

实际值

指示值

误差(%)

结论

*允许误差判定参考IMT文件

4.备注

检定结论：□合格；□不合格，调校后合格；

检定员：

审核：

□合格,限条件使用；□不合格，送修

计量器具检定/校准记录

3.其它部分：外观及工作正常性检查结论□合格□不合格

何志银

C

6.1检定的技术要求和检定条件

6.2检定方法

7.1检定/校准记录表

首版发行

B

*正文3.0及6.1.2内容修订

*正文5.0修订

陈阳

97.11.18

*正文6.1.2内容修订；*正文6.1.1内容修订；*正文3.0及5.0修订

陈伯友

刘发华

02.08.08

塞尺校验指导书

*内容变更

IMT014

IMT014

符合检定规程，保证塞尺校验的一致性、正确性

本公司内检各型规格、型号的塞尺

准器具

6.0校验程序

型号、测量的范围(共几片)，及计量器具许可证标志均正确无误

6.1.2被检的塞尺的误差判定：

6.1.1外观检查：有无生锈、机械性损伤、少片等影响测量的缺陷；被检塞尺的制造厂、规格、

0.02mm~0.10mm范围内Sn≤±0.007为合格

0.10mm~1.00mm范围内Sn≤±0.002为合格

6.1.3检定条件

6.1.3.1检定环境条件：温度20℃±10℃,相对湿度≤75％

6.1.3.2检定时用的标准器具：编码IMM84M数显千分尺，制造商日本Mitutoy、型号SR44、

6.2.1外观判定同6.1.1款判定即可

6.2.2被检塞尺径外观检查合格后，用标准的数显千分尺逐片测量，并记录标准的数显卡尺的

测量值LN，和被检塞尺每片上标称数值LX

判定合格要求见6.1.2款即可

6.3检定周期：本公司内检的塞尺检定周期12个月

2of3

1of3

塞尺：是几何量计量中从厚度的自然标准传递到实物的标准，保证被测量间隙量值统一的标

Length:0~25mm，最大允许误差±4μm，最小分度值0.001mm

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示

值

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