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佛山陶瓷

2025年第7期（第348期）11

先进陶瓷原材料高纯氧化铝粉体中杂质成分的分析研究

仇红萍

（国家电子陶瓷产品质量监督检验中心（湖南），娄底417000)

摘要：本研究聚焦于先进陶瓷原材料高纯氧化铝粉体中杂质成分的精确分析。运用电感耦合等离子体质谱法（Inductivelycoupled

plasmamassspectrometry,ICP-MS）、火焰原子吸收光谱法（Flameatomicabsorptionspectroscopy,FAAS）和悬浮液直接进样电感耦合等

离子体发射光谱法(Inductivelycoupledplasmaopticalemisionspectroscopy,ICP-OES)，对高纯氧化铝粉体进行了系统检测。通过实

验结果深入分析，为高纯氧化铝粉体的质量控制和先进陶瓷性能提升提供了有利依据，对相关领域研究具有重要参考价值。

关键词：陶瓷；原材料；高纯氧化铝；杂质；成分分析

1引言2.2实验方法

在先进陶瓷的研发与生产中，高纯氧化铝粉体的质(1)ICP-MS分析方法。准确称取0.5g高纯氧化铝

量至关重要。其杂质成分的微小差异可能显著改变陶粉体样品于聚四氟乙烯消解罐中，加人5mL硝酸和3

瓷的物理、化学和电学性能,进而影响先进陶瓷在电子、mL氢氟酸，将消解罐放入微波消解仪中。设置消解程

航空航天、能源等高端领域的应用效果2。因此,建立精序：120W功率升温5min至100℃，保持3min;200W

准的杂质成分分析方法对于保障先进陶瓷材料的性能功率升温8min至150℃，保持5min;300W功率升温10

稳定性和可靠性具有关键意义。本研究旨在通过多种先min至180℃,保持20min。消解完成后，冷却至室温，将

进分析技术，全面、准确地测定高纯氧化铝粉体中的杂溶液转移至50mL聚四氟乙烯容量瓶中,用超纯水定容。

质元素种类及含量，深人探究实验条件对分析结果的影对ICP-MS的高频功率、载气流量、采样深度等参数进行

响规律，优化分析方法。这不仅有助于完善高纯氧化铝优化。配制浓度为0.1μg/L、0.5μg/L、1μg/L5μg/L、

的质量检测体系，还能为其生产工艺改进提供直接指10μg/L、20μg/L的杂质元素标准溶液。将标准溶液依

导，推动先进陶瓷产业的高质量发展3]。次引入ICP-MS中进行测定，记录质谱信号强度，绘制标

2实验与方法准曲线。将处理后的样品溶液注入ICP-MS,根据标准曲

线计算样品中各杂质元素的含量4。

2.1实验材料与仪器

(2)FAAS分析方法。称取0.8g样品于100mL烧杯

(1)实验材料。选取5种不同来源的高纯氧化铝粉

中,加人10mL盐酸（1+1),在加热板上缓慢加热至样

体样品，分别标记为S1、S2、S3、S4、S5。准备铁（Fe）硅

品完全溶解。将溶液蒸发至近干，加入5mL硝酸，继续

(Si）钙（Ca）钠（Na）钾（K)元素的标准物质,用于配

加热至白烟冒尽。冷却后,用5mL稀盐酸(1+9)溶解残

制标准溶液。实验中使用的盐酸、硝酸、氢氟酸均为优

级纯，实验用水为超纯水，电阻率大于18MQ·cm。渣，转移至50mL容量瓶中，