《1.5次光学集成光源技术规范》征求意见稿.docxVIP

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T/HNSEMCCXXXX—XXXX

1.5次光学集成光源技术规范

1范围

本文件界定了1.5次光学集成光源（以下简称“产品”）的缩略语，规定了技术要求、检验规则、标志、包装、运输和贮存，描述了对应的试验方法。

本文件适用于车用市场、消费电子、安防及智能IoT、背光照明等领域集合了一次透镜尺寸和二次透镜效果的光学集成光源的生产与检验。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其必威体育精装版版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T191包装储运图示标志

GB/T2423.1—2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验A:低温

GB/T2423.2—2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验B:高温

GB/T2423.7—2018环境试验第2部分:试验方法试验Ec:粗率操作造成的冲击（主要用于设备型样品）

GB/T2828.1—2012计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T2900.65电工术语照明

GB/T

17626.2—2018

电磁兼容

试验和测量技术

静电放电抗扰度试验

GB/T

17626.3—2023

电磁兼容

试验和测量技术

第3部分:射频电磁场辐射抗扰度试验

GB/T

17626.4—2018

电磁兼容

试验和测量技术

电快速瞬变脉冲群抗扰度试验

GB/T

17626.5—2019

电磁兼容

试验和测量技术

浪涌（冲击）抗扰度试验

GB/T

17626.6—2017

电磁兼容

试验和测量技术

射频场感应的传导骚扰抗扰度

GB/T

17626.8—2006

电磁兼容

试验和测量技术

工频磁场抗扰度试验

GB/T17743—2021电气照明和类似设备的无线电骚扰特性的限值和测量方法

GB/T41423LED封装长期光通量和辐射通量维持率的推算

SJ/T2658.2半导体红外发射二极管测量方法第2部分:正向电压

SJ/T2658.3半导体红外发射二极管测量方法第3部分:反向电压和反向电流

SJ/T2658.7半导体红外发射二极管测量方法第7部分:辐射通量

SJ/T2658.8半导体红外发射二极管测量方法第8部分:辐射强度

SJ/T2658.12半导体红外发射二极管测量方法第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽

3术语和定义

GB/T2900.65界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1

光学集成光源opticalintegratedlightresource

将光源与光学系统（如透镜、反射镜等）集成在一起的光源系统。

4缩略语

下列缩略语适用于本文件。

LED：发光二极管（LightEmittingDiode）

5工作条件

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T/HNSEMCCXXXX—XXXX

应符合表1的规定。

表1工作条件

项目

性能指标

占空比

≤0.5%

脉冲宽度/μs

≤200

6技术要求

6.1外观及尺寸

6.1.1产品外观应整洁，应无影响功能的裂纹、损伤和划痕。塑料件应无明显变形，表面无褪色及永久性污渍。金属件外壳内应平滑光洁，表面涂覆不应露出底层金属，并无起泡、缺口、毛刺、蚀点、涂层脱落和砂孔。

6.1.2光学零件不应有霉斑、伤痕、波纹、气泡和明显的砂纹现象，光学膜层不得有脱落现象，光学胶合件不得有脱胶等癖疵。

6.1.3产品结构装配应贴合紧密，制造商未注明的尺寸允许偏差为±0.2mm。

6.2气密性

无渗透级别应至少达到表2中的3级。

表2气密性

试验环境

判定条件

等级

真空压力0.02MPa

24h后被测光源内部无渗透红墨水

1级

85℃加热蒸煮

2h后产品内部无渗透红墨水

2级

25℃±2℃

24h后产品内部无渗透红墨水

3级

6.3均匀性

产品光斑在制造商技术规格书标称的发光面内，以中心矩形格的照度为基准，其它矩形格照度与中心矩形格照度的比值为均匀度，均匀度应符合制造商产品说明书的规定。

6.4电磁兼容性

6.4.1抗扰度

应符合表3的规定。

表3抗扰度

电磁骚扰源

标准

评价等级

静电放电

GB/T17626.2

A

射频辐射电磁场

GB/T17626.3

A

电快速瞬变脉冲群

GB/T17626.4

B

射频场感应的传导骚扰

GB/T17626.6

B

浪涌冲击

GB/T17626.5

A

工频磁场

GB/T17626.8

A

6.4.2