超声原子力显微镜亚表面成像机制：原理、影响因素及应用探索.docx

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2025-07-23 发布于上海
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超声原子力显微镜亚表面成像机制：原理、影响因素及应用探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在纳米科学研究领域，对材料微观结构和性能的深入探究始终是推动科技进步的关键。传统的显微镜技术在面对复杂材料的内部结构以及纳米尺度下的力学、电学等特性分析时，逐渐显露出局限性。超声原子力显微镜（UltrasonicAtomicForceMicroscope，UAFM）的出现，为纳米科学研究带来了新的曙光，成为突破传统研究瓶颈的有力工具。

UAFM巧妙地将超声技术与原子力显微镜相结合，具备独特的优势。一方面，它继承了原子力显微镜的高分辨率特性，能够对样品表面进行原子级别的精细成像，为研究纳米材料的表