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第50卷第6期:2363-2373高电压技术Vol.50,No.6:2363-2373

2024年6月30日HighVoltageEngineeringJune30,2024

DOI:10.13336/j.1003-6520.hve2024年6月30日第50卷June

淬火温度对聚硫脲介电储能特性影响的分子

动力学模拟

冯阳,渠广昊,李盛涛

710049

(西安交通大学电工材料电气绝缘全国重点实验室,西安)

摘要:为了提高聚硫脲(polythiourea,PTU)的储能密度,对PTU进行了淬火处理,并采用分子动力学模拟研究

了PTU中氢键动力学性质对介电储能特性的影响机理。首先,借助热波动指数(thermalfluctuationindex,TFI)和

(reductiongradientdensityRDG)

约化梯度密度,描述了氢键作用模式和强度随淬火温度升高的演变规律。其次,计

算了氢键供体分别与受体和氢原子的径向分布函数、自相关函数等,提取了氢键密度和平均寿命。最后,建立了

氢键特征参数与介电常数的关联,揭示了淬火提高PTU储能密度的机理。研究发现,淬火温度升高,氢键作用模

式发生了由双氢键至单氢键,并最终超过氢键阈值而断裂的演变规律,这造成氢键密度减少,表现为强极性双氢

键硫脲阵列数目的减少,导致介电常数减小;同时,氢键强度持续减弱,氢键寿命缩短,动态变化加快,导致硫

脲阵列转向势垒降低,这有利于增大介电常数。受氢键作用模式和强度的共同影响,PTU的介电常数随淬火温度

3

393KPTU1016.3J/cm

升高呈现先增大后减小的变化趋势。当淬火温度为时,的介电常数增大至,储能密度高达。

关键词:聚硫脲;分子动力学模拟;氢键动力学性质;介电常数;储能密度

MolecularDynamicsSimulationsontheEffectofQuenchingTemperatureontheDielectric

EnergyStorageCharacteristicsofPolythiourea

FENGYang,QUGuanghao,LIShengtao

(StateKeyLaboratoryofElectricalInsulationandPowerEquipment

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