光学干涉式薄膜测厚仪校准实验报告 .pdfVIP

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光学干涉式薄膜测厚仪校准

实验报告

《光学干涉式薄膜测厚仪校准规范》

实验报告

一.实验目的

光学干涉式薄膜测厚仪在薄膜厚度测量上具有非接触、多材料、安全性高等

优点,在薄膜材料制造及应用等领域中具有广泛的应用。规范制定小组在参考相

关生产厂家的技术说明的基础上,为了确认本规范的计量性能指标和校准方法是

否合理,针对校准规范上确定的计量特性及校准项目,对哈尔滨工程大学的自研

仪器,白光干涉式薄膜厚度测量仪进行实验。以下实验是在实验室环境和仪器状

况都符合要求的基础上进行的。

二.实验地点与环境情况

地点:哈尔滨工程大学理学楼光学实验室;温度:20±2℃;湿度:55%RH。

三.实验用标准器

器具名称不确定度证书标号

10.56μm薄片式厚度标准片

U=(0.02+0.2%H)μm,k=2CDjc2019-5289

31.46μm薄片式厚度标准片

24.60μm薄片式厚度标准片U=0.2μm,k=2CDjc2019-5252

四.实验方法与数据记录

1.厚度测量重复性校准方法及实验记录

(1)校准方法

在仪器的有效测量范围内,选取一个厚度标准片,其厚度值大约分布在仪器

量程的二分之一处,重复测量厚度标准片10次,记录仪器输出结果ᵅ,按公式

(1)计算该组实验标准偏差ᵆ:

12

√ᵅ

ᵆ=∑(ᵅ−ᵅ)(1)

ᵅ−1ᵅ=1ᵅ

式中:ᵅ--第i次测量的仪器示值,μm;

--10次测量的算术平均值,μm;

ᵅ--测量次数,n=10。

根据公式(2)计算仪器厚度相对测量重复性ᵆ:

ᵅᵅᵅ

ᵆ=ᵆ×100%(2)

ᵅᵅᵅ

̅

光源光谱范围以及探头工作波长的选择应与实际测量应用时相一致。

(2)实验数据记录与处理

根据上述的厚度测量重复性校准方法,对标称值为31.46μm厚度标准片的

厚度重复10次的测量结果如表1所示。

表1:厚度测量重复性数据记录表格

标准器31.46μm薄片式厚度标准片

序号测量值/μm

131.48

231.58

331.51

431.52

单次测量

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