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    在测试系统中，测试产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力即为可靠性。测

    试系统的每一局部都会不同程度的影响整个系统的可靠性，由于局部的失效引起的系统失效的概率也就

    不同。

    随着存储测试技术的开展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些功能模块制成

    ASIC,就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得到极大地提高。图1为使用

    专用集成电路设计的存储测试系统。电荷放大器是测试系统中的一个串联节，因此它的失效直接影响

    整个系统的失效。

    图1存储测试系统原理框图

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