基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路.pdfVIP

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2024-04-06 发布于四川
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基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路.pdf

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本发明属于集成电路硬件安全技术领域，公开了基于改进的线性反馈移位寄存器的安全测试电路，通过控制模块控制改进的线性反馈移位寄存器的状态，利用种子信号产生模块提供改进的线性反馈移位寄存器所需要的种子信号，改进的线性反馈移位寄存器模块输出难以预测的序列作为内部测试密钥提供给安全扫描链；安全扫描链的结构是动态的，输出经过混淆的数据，攻击者难以得到真正的扫描数据；通过明文限制模块对扫描链输出进行限制，进一步增强加密电路的安全性，防止差分密码攻击。本发明所述电路可以保护加密芯片免受基于扫描链的攻击，并且面积

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117825936A

(43)申请公布日2024.04.05

(21)申请号202410239774.3

(22)申请日2024.03.04

(71)申请人南京邮电大学

地址210023