嵌入式系统实验报告_3.docVIP

PAGE 1 嵌入式系统实验报告 院(系)别 信息科学与电气工程学院 班 级  学 号  姓 名  指导教师  时 间 2014-06-21  实验二 A/D 转换器应用 1 实验目的 （1）了解逐次逼近式 ADC 的工作原理； （2）掌握 S3C44B0X 内部 ADC 的基本应用方法。 2 实验要求 （1） 参考本章 3.1 节提供的电路，连接 3 组“模拟信号产生电路”； （2） 编写程序，以 300ms 时间间隔对 3 组模拟信号进行一次 A/D 转换，并将转换结 果的数值从串口输出，显示到超级终端上。 3 实验内容与步骤 本实验需要进行电路连接。学生按照本章的指导说明和示范子程序，自行编写符合实验 要求的源程序。并按照实验一中说明的步骤，进行：建立工程、编译除错、下载仿真等步骤， 最终调试出符合要求的源程序。 手动调节电位器，产生缓慢变化的模拟信号，观察超级终端上的显示，看是否输出满足 实验要求的结果。 3．1 模拟信号的产生 利用导线连接 AINn 和模拟信号发生器模块。如下图所示： 其中模拟信号产生电路的电路原理如下图所示。 调节电位器上的旋钮，改变输入 ADC 的模拟电压值。 采用 3 组这样的输入信号，就可以进行本次数模转换实 验。 图 12－1 输入模拟信号产生电路 3．2 ADC 控制寄存器初始化 采用以下语句对 ADC 相关寄存器进行初始化： rCLKCON=0x7ff8;//时钟控制寄存器，使能 MCLK 作为 ADC 的时钟源 rADCCON=0x1|(02); //启动 A/D 转换 Delay(100); //等待一定的时间使 ADC 的参考电压稳定下来 rADCPSR=0x20; //设置时钟预分频值 3．3 读取 A/D 转换数值子程序 参考以下程序： int ReadAdc(int ch)//参数：采样通道 { int i; static int prevCh=-1; if(prevCh!=ch) { rADCCON=0x0|(ch2); //设置采样通道 for(i=0;i150;i++); //等待最小 15uS } rADCCON=0x1|(ch2); //启动 A/D 转换 while(rADCCON 0x1); //To avoid The first FLAG error case. //(The START bit is cleared in one ADC clock.) while(!(rADCCON 0x40));//A/D 转换是否结束？ for(i=0;irADCPSR;i++); //To avoid The second FLAG error case prevCh=ch; return rADCDAT; //返回转换结果 } 4 程序清单 #include string.h #include stdio.h #include Target\44blib.h #include adctest\adc.h void * function[][2]= { (void *)Test_Adc, ADC test , // (void *)Test_DMA_Adc, DMA Adc test, 0,0 }; void Main(void) { char aa; int i; Port_Init(); Uart_Init(0,115200); Led_Display(0xf); Delay(0); Beep(0x1); Uart_Select(0); //Select UART0// Uart_Printf(\n*************************************************************************); Beep(0x0); Uart_Printf(\n* 立宇泰电子 *); Uart_Printf(\n* -S3C44B0X功能部件:ADC测试- *); Uart_Printf(\n* Version 1.21