电子技术基础双极型半导体器件演示文稿.pptVIP

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IC=f(Uce)? Ib=C Sect 3. 放大区 (1) IC平行于Uce轴的区域,曲线基本平行等距 (2) 条件:发射结正偏,集电结反偏, NPN管 UBE≥ 0 , UBC<0 (3) Ic=?Ib, 即Ic主要受Ib的控制。有电流放大作用 (4) ? ≈ 2. 输出特性曲线 2. 截止区: (1)条件:发射结反偏,集电结反偏。 NPN:Ube?0.5V,管子就处于截止态 (2) Ib=0 Ic=Iceo 晶体管C、E之间相当于开路 1. 饱和区: (1) IC受Uce显著控制的区域,该区域内Uce的数值较小,一般Uce<0.7V(硅管)。 (2) 条件: IB> IBs 临界饱和点: IBs= ICs /β Uces=0.3V左右, 晶体管C、E之间相当于短路 发射结正偏,集电结正偏 C E B 当前第31页\共有31页\编于星期六\9点 * * * * * * * * * * * * Chap 电子技术基础双极型半导体器件演示文稿 当前第1页\共有31页\编于星期六\9点 优选电子技术基础双极型半导体器件 当前第2页\共有31页\编于星期六\9点 2. 电子空穴对 自由电子: 当导体处于热力学温度0K时,导体中没有自由电子。当温度升高或受到光的照射时,价电子能量增高,有的价电子可以挣脱原的束缚,而参与导电,成为自由电子。这一现象称为本征激发,也称热激发。 图1-1 本征激发和复合的过程 空穴: 自由电子产生的同时,在其原来的共价键中就出现了一个空位,原子的电中性被破坏,呈现出正电性,其正电量与电子的负电量相等,人们常称呈现正电性的这个空位为空穴。 电子空穴对: 因热激发而出现的自由电子和空穴是同时成对出现的,称为电子空穴对。游离的部分自由电子也可能回到空穴中去,称为复合。 本征激发和复合在一定温度下会达到动态平衡. 3. 空穴的移动 I 由空穴移动形成的电流 由电子移动形成的电流 自由电子移动方向 空穴移动方向 E 图1-2 半导体中电子和空穴在外电 场作用下的移动方向和形成的电流 电子移动时是负电荷的移动,空穴移动时是正电荷的移动,电子和空穴都能运载电荷,所以他们都称为载流子。 当前第3页\共有31页\编于星期六\9点 1.1.2 杂质半导体 在本征半导体中掺入五价杂质元素,例如磷,可形成 N型半导体,也称电子型半导体。 图1-3 N型半导体的结构示意图 掺入杂质的本征半导体称为杂质半导体。 1. N型半导体 2. P型半导体 在本征半导体中掺入三价杂质元素,如硼、镓、铟等形成了P型半导体,也称为空穴型半导体。 N型半导体的特点: 自由电子是多数载流子,空穴是少数载流子, 以自由电子导电为主。 P型半导体的特点: 空穴为多数载流子,自由电子是少数载流子,以空穴导电为主。 图1-4 P型半导体的结构示意图 半导体的特性: ⑴光敏性和热敏性。 即半导体受到光照或热的辐射时,其电阻率会发生很大的变化,导电能力将有明显的改善,利用这一特性可制造光敏元件和热敏元件。 ⑵掺杂特性。 即在纯净的半导体中掺入微量的其他元素,半导体的导电能力将有明显的增加。 当前第4页\共有31页\编于星期六\9点 扩散运动 多子从浓度大向浓度小的区域运动。 漂移运动 少子向对方运动,漂移运动产生漂移电流。 动态平衡 扩散电流=漂移电流,PN结内总电流为0。 PN 结 稳定的空间电荷区,又称为高阻区、耗尽层, PN结的接触电位 内电场的建立,使PN结中产生电位差。从而形成接触电位V? 接触电位V?决定于材料及掺杂浓度 锗: V?=0.2~0.3V 硅: V?=0.6~0.7V 1.1.3 PN结及单向导电性 P型半导体 空间电荷区 N型半导体 内电场方向 PN结 退出 1 PN结 当前第5页\共有31页\编于星期六\9点 1.PN结加正向电压 P 区的电位高于N区的电位,称为加正向电压,简称正偏; 外电场方向与PN结内电场方向相反,削 弱了内电场。内电场对多子扩散运动的阻碍 减弱,扩散电流加大。扩散电流远大于漂移 电流,可忽略漂移电流的影响。 PN结呈现低电阻。 2. PN结加反向电压 P区的电位低于N区的电位,称为加反向电压,简称反偏; 外电场与PN结内电场方向相同,增强内 电场。内电场对多子扩散运动阻碍增强, 扩散电流大大减小。少子在内电场的作用 下形成的漂移电流加大。 PN结呈现高电阻。 内 外 Sect 2

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