一种SOA芯片光放大检测方法及检测设备.pdfVIP

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2023-08-12 发布于四川
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一种SOA芯片光放大检测方法及检测设备.pdf

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一种SOA芯片光放大检测方法及检测设备，SOA芯片光放大检测方法，包括以下步骤：S1，SOA芯片位置检测；S2，SOA芯片水平面角度调整：调整所述SOA芯片在水平方向上的倾斜角度Angle；S3，SOA芯片偏移量检测：确定所述SOA芯片的水平方向和竖直方向的偏移量；S4，SOA芯片竖直偏移量调整：调整所述SOA芯片的SOA芯片与载台二者之间夹角角度θ，使所述SOA芯片的位置与检测探针相对应。通过上述SOA芯片光放大检测方法，即可实现SOA芯片多角度和位置调整，从而解决现有技术中的检测探针无法有效

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116577070 A (43)申请公布日 2023.08.11 (21)申请号 202310355349.6 G06T 7/60 (2017.01)