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SJ中华人民共和国电子行业标准SJ/T 11212 --- 1999idt IEC444---6: 1995石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量Measurement of quartz crystal unit paramenters -Part6: Measurement of drive level dependence (DLD)1999 - 08 ~ 26 发布1999-12-01实施中华人民共和国信息产业部发布 目次前 言IEC 前言IEC序言(1)1 总则(1)1.1 范围(1)1.2 引用标准(2)2DLD效应电e(2)2.1频率和电阻的可逆变化+(2)2.2频率和电阻的不可逆变化(2)2.3 DLD效应的原因(2)3DLD 测量的激励电平 (3)4试验方法(3)4.1试验方法A(元型网络法)(4)4.2试验方法B(振荡器法)(10)石英晶体元件的激励电平和机械位移之间的关系附录A (标准的附录) 前言本标准等同采用国际电工委员会 IEC444-6:1995《石英晶体元件参数的测量第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量》。这样,使我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与IEC石英晶体元件参数的测量标准相一致,以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要,便于我国生产的这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通。本标准与下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准。SJ/Z9154.1-87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数的第一部分:用元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法(idtIECA44 - 1: 1986)SJ/Z9154.287用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分:测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法(idtIEC444-2:1980)SJ/Z9154.3~87用元型网络零相位法测量石英晶体元件参数第三部分:利用有并电容Co补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法(idtIECA44-3:1986)SJ/T11210-1999石英晶体元件参数的测量第四部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fi和负载谐振电阻R的测量方法及其他导出参数的计算(idtIECA44 4:1988)SJ/T112111999石英晶体元件参数的测量第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法(idtIEC444-5:1995)本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准由电子工业部标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:邓鹤松、章怡、宋佩钰、边一林。 IEC前言1)IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会(IEC国家委员会)组成的世界性标准化组织。IEC的目的是促进电工电子领域中标准化问题的国际合作。为此目的,除其他活动外,IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担,对所涉及内容关切的任何IEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与IEC有联系的任何国际、政府和非官方组织也可以参加国际标准的制定,EC与国际标准化组织(ISO)根据两组织间协商确定的条件保持密切的合作关系。2)IEC在技术问题上的正式决议或协议,是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的,对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布,以推荐的形式供国际上使用,并在此意义上,为各国家委员会认可。4)为了促进国际上的统一,各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。国际标准IEC444-6由EC第49(频率控制和选择用压电和介电器件)技术委员会制定。本标准构成石英晶体元件参数测量系列标准的第6部分。第1部分:元型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法,出版为IEC4441(1986年第二版)。第2部分:测量石英晶体元件动态电容相位偏置法,出版为IEC444-2(1986年版)。第3部分:有并电容Co补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法,出版为IEC444-3(1986年版)。第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率f和负载谐振电阻R的测量方法及其他导出参数的计算,出版为IEC4444(1988年版)。第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数测量晶体元件的基准方法,出版为IEC444-5(1995年版)。本标准文本以下列文件为依据:表决报告国际标准草案49/284/RVD49(CO)273表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。附录A构成本标准不可缺少
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