测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法及装置.pdf

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本发明公开一种测试tws耳机充电柱与充电仓弹簧针接触寿命的方法，包括：在tws耳机的外壳上安装磁铁；在充电仓的外壳安装霍尔传感器，所述霍尔传感器与测试板电连接；所述测试板与上位机电连接；将tws耳机放入充电仓，两个充电柱分别与正极弹簧针和负极弹簧针接触，霍尔传感器感应到所述磁铁，发出耳机放入指令，所述测试板发送计数指令至上位机，所述上位机根据所述计数指令记录放入次数；若两个充电柱与充电仓的正极弹簧针和负极弹簧针接触良好，则测试板发送接触良好信号至上位机，上位机根据所述接触良好信号记录接触良好次数

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114325503 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111591931.X (22)申请日 2021.12.23 (71)申请人深圳市敦实电子有限公司