一种通用光电元器件分析方法.pdfVIP

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2023-05-06 发布于北京
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一种通用光电元器件分析方法.pdf

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本发明的一种通用光电元器件分析方法，属于光电器材测量技术领域，测试光光器件时，先后测试无待测件和加入待测件的系统响应，通过计算可得到待测光光器件的幅相响应，本发明可测试光‑电转换、电‑光转换、光‑光变换等芯片、模块以及系统的幅度相位参数，可以广泛应用于光通信、激光雷达、量子通信、光传感以及微波光子等领域，具有高测试效率、大动态范围、高频率分辨率、应用广泛等优势。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 114337839 A (43)申请公布日 2022.04.12 (21)申请号 202111658712.9 (22)申请日 2021.12.30 (71)申请人苏州