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2023-03-10 发布于四川
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一种芯片测试装置.pdf

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本实用新型公开了一种芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域。该芯片测试装置包括测试座体和多个导电接触片，测试座体上设置有第一容纳腔；多个导电接触片均设置于第一容纳腔内；导电接触片上设置有至少两个接触部，接触部包括第一接触面和第二接触面，第一接触面与待测芯片接触，第二接触面与测试线路板接触，以将待测芯片与测试线路板电连接。本实用新型提供的芯片测试装置，不仅可以测试大电流芯片，而且使用寿命长，节约成本。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 213398652 U (45)授权公告日 2021.06.08 (21)申请号 202022256838.0 (22)申请日 2020.10.12 (73)专利权人上海捷策创电子科技有限公司