TEM制样技术课件.pptVIP

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透射电镜样品的制备;透射电镜制样用工具类;当样品放在电镜中观察时,“载网支持膜”在电子束照射下,会产生电荷积累,引起样品放电,从而发生样品飘移、跳动、支持膜破裂等情况。所以,人们考虑在支持膜上喷碳,提高支持膜的导电性,达到良好的观察效果。这种经过“喷碳的载网支持膜”,简称“碳支持膜”,一般膜厚度为7-10nm。?碳支持膜是以有机层为主,膜层较薄,背底一般影响很小。通常用水或乙醇分散样品,支持膜均不会受腐蚀。载网材料有镍网和钼网两种;如果您的样品属于磁性粉末样品可以使用两种方法:1.树脂包埋,超薄切片;2.可以使用双联网碳支持膜。 ;?超薄碳膜,也是支持膜的一种,是在微栅的基础上,叠加了一层很薄的碳膜,一般为3-5nm。这层超薄碳膜的目的,是用薄碳膜把微孔挡住。这主要是针对那些分散性很好的纳米材料,如:10nm以下的样品,分散性极好,如果用微栅就有可能从微孔中漏出,如果在微栅孔边缘,由于膜厚可能会影响观察。所以,用超薄碳膜,就会得到很好的效果;载网(铜网、镍网、金网、钼网) ;环类(单孔环、椭圆环) ;三、透射电镜样品的制备;1.样品要足够薄(100-10nm) 2.提供需要观察的、有代表性的视场 3.不能改变样品的结构与成分 (如机械损伤、化学反应、组织转变) 4.满足真空环境的要求、具一定导电性、可经受电子束的辐照等 ;1、粉末样品的制备—分三类;  如果是脆性样品,可以考虑将其磨成粉末后再上电镜。研磨过程根据具体情况可以选择湿磨或干磨。 有时样品量很少可以考虑湿磨,将样品放入玛瑙研钵,倒入适量酒精或别的有挥发性的不会改变样品性质的液体,将样品充分磨细。这个过程可能会耗费看一部连续剧的时间。;TEM制样技术;2、平面样品的制备;凹坑仪;离子减薄仪;可用于几乎所有样品的制备(但要注意离子损伤倾向和热效应);TEM制样技术;TEM制样技术;电解双喷;TEM制样技术;JCP200磁控溅射镀膜仪;;;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;TEM制样技术;谢谢聆听!

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