工业测量（课堂PPT）.ppt

一、工业测量的概况;;; ;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.1 长度测量;§2.2 角度测量;§2.2 角度测量;§2.2 角度测量;§2.2 角度测量;§2.3 高程测量;§2.3 高程测量;同时对向观测时，双向观测方程即可写成; 线路观测示意图;§2.3 高程测量;;;;;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.4 准直测量;§2.5 倾斜测量;§2.5 倾斜测量;§2.5 倾斜测量;§2.5 倾斜测量;测量方法分类;§3-1经纬仪测量系统;1977年 HP公司生产的HP3820A，2”、4”；1979年用一台计算机将2台电子经纬仪连接，第一次组成了“实时三角测量系统”； 20世纪80年代中期以来，美国K+E厂推出AIMS系统，德国Zeiss厂推出IMS系统，瑞士Kern厂推出ECDS和SPACE系统 Leica公司推出RMS2000、ECDS3、Axyz系统 索佳公司的STMS系统。。。。;Axyz系统;典型的工业测量经纬仪;系统组成以及其作用;定向原理;注意的问题： 坐标系的选择： 已知值：b，h 观测值：水平角，垂直角 待求值：待定点坐标 影响精度的元素：起始值，观测值，构型;确定设备的起始方向 ;绝对定向;基准尺放置与基线精度的关系;当基线尺长度L＝1m，mL＝±0.001mm，基线长度b＝10m，角度观测精度±0.5秒，且两台仪器基本同高、基线尺中心与仪器基本等高;基准尺与不同长度基线的精度关系;不同长度基准尺对基线精度的影响;基于光束法平差的相对定向、绝对定向 ;涉及的坐标系 经纬仪测站坐标系 虚拟像平面坐标系 空间测量坐标系;三个平移量;1、相对定向;微型控制网的建立 ;二、全站仪测量系统;二、全站仪测量系统;二、全站仪测量系统;二、全站仪测量系统;二、全站仪测量系统;三、近景摄影测量系统;摄影机 模拟相机 数码相机 摄影全站仪 摄影测量标志 普通人工标志 回光反射标志 编码标志 偏心标志 光学标志 ;;;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;;三、近景摄影测量系统;;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;一些技术问题 DLT解法建立了坐标仪坐标（x、y）与物方空间坐标（X、Y、Z）的直接的、线性的关系式，是一种以共线条件方程式为理论基础的方法 不如光线束解法严密，只能提供中、低精度的成果 摄站点不能与物方空间坐标系原点重合 对空间控制点的要求： 控制点的数量，每个像片内至少六个 控制点应均匀分布，环绕目标，且各控制点在相片上的构像范围越大越好 控制点不能布设同一平面上，引起解的不定性（系数矩阵M不是一个列满秩阵）;影响精度的主要因素： 像点量测误差 两相片主光轴间交会角 像片张数 非线性畸变差的改正程度 像机的像场角 控制点的精度 控制点的数量及分布;二维DLT 目标为二维，如Z是某一常数，将含Z的项合并 一维DLT 目标为一维，如Y、Z是常数;三、近景摄影测量系统;;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;三、近景摄影测量系统;V-STARS（/products/）;四、三坐标测量机（CMM）;五、激光跟踪仪;六、关节臂式坐标测量机;六、关节臂式坐标测量机;七、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、激光扫描仪;八、 Indoor GPS－iGPS;七、Indoor GPS－iGPS;工业测量数据处理;一、形位误差等基本概念;;;;;二、误差理论;三、曲线、曲面拟合;三、曲线、曲面