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第25卷第1期 压 电 与 声 光 Vo1.25No.1 2003年2月 PIEZOELECTRICS8LAC0UST00PTICS Feb.2003 文章编号 :1004—2474(2003)01—0009—02 加强管壳检验工作,提高SAW 器件的键合可靠性 吴 燕,陈台琼 (四JII压电与声光技术研究所 .重庆 400060) 摘 要:现在.SAW 器件的键合可靠性已成为影响器件性能的主要指标之一。器件键合失效主要表现为温度 试验后管壳上的键合点脱落 .而引起失效的原因与工艺过程和键合所涉及的材料有关。该文介绍了采用正交试验 的方法.通过大量的对 比试验,从键合工艺和管壳质量两个方面入手 .找到了导致器件大量失效的原因.并采取了 相应的处理措施 .从而提高了键合质量和产品的可靠性 。 关键词:引线键合;可靠性;破坏性物理分析(DPA);正交试验 中图分类号 :TN65;TN406 文献标识码:A ChecktheQualityofPackageStrictlytoImprove theW ireBondReliabilityofSAW Device W U Yan,CHEN Tai-qiong (SichuanInstituteofPiezoelectricAcoustoopticTechnology.Chongqing400060.China) Abstract:NowadayswirebondingreliabilityofSAW deviceshasbecomeoneofthemostimportantfactorsaf— Iectingperformanceofdevices.Thewirebonding failureofdevicesismainlyshown asthebreakingoffofwire bondedOnthepackagesaftertemperaturetest,andthefailurecausesarerelatedtOwirebondingprocessandmate— rials.Thisarticleintroducesthemethodofpositive—crosstest.bywhichwefindthecauseofalargenumberofde— vicesfailurebystudyingwirebondingprocessandpackagequality.Thenweadoptsomecorrespondingmeasures forthedeviceswhichcaD_improvethewirebondingqualityandreliabilityofourproducts. Keywords:wirebonding;reliability;destructivephysicsanalysis(DPA);positive—crosstest 1 引言 2 试验 2000年底至 2001年第一季度,由我们制作的 2.1 对键合工序中工艺影响因素的试验 几种型号的SAW 滤波器 ,在经过筛选试验后 ,都相 键合工序中对键合质量影响较为显著的因素包 继出现了性能变化甚至器件失效的情况。通过解剖 括操作人员及设备 ,因此,首先运用正交试验法 ,以 不合格器件发现,失效批次的器件中,几乎所有的键 设备和操作人员为因子,进行分组试验 。对于同一批 合强度值都不合格,甚至出现 0克点。有的焊点表面 器件 ,统计不同操作人员及 同一操作人员在手动和 看来还附在器件的相应键合位置上,但实际已脱落。 半 自动设备上的键合强度值,如图1、2所示(本文均 而分析其失效模式,我们
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